[发明专利]一种切割太阳能电池片的IV和EL检测方法有效
| 申请号： | 201810417490.3 | 申请日： | 2018-05-03 |
| 公开（公告）号： | CN108428641B | 公开（公告）日： | 2021-04-20 |
| 发明（设计）人： | 周鼎军;左立超 | 申请（专利权）人： | 天津康帝德科技有限公司 |
| 主分类号： | H01L21/66 | 分类号： | H01L21/66;H01L31/04;H01L31/18 |
| 代理公司： | 北京同辉知识产权代理事务所(普通合伙) 11357 | 代理人： | 刘洪勋 |
| 地址： | 300403 天津市滨海新区睦*** | 国省代码： | 天津;12 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种切割太阳能电池片的IV和EL检测方法，属于太阳能电池片检测方法领域，包括如下步骤：S1：对太阳能电池片进行激光或物理刻划；S2：对刻划后但未裂开的电池片进行IV和EL检测；S3：对完成IV和EL检测的太阳能电池片进行裂片。本发明的切割太阳能电池片的IV和EL检测方法为太阳能电池片的检测提供了新思路，摒弃了太阳能电池片一定要经过裂片后再进行测试的传统方法，且检测方法可靠，此方法极大的提高了检测效率，操控简单，节省了人工、工序和成本，适于推广应用。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 切割 太阳能电池 iv el 检测 方法 | ||
【主权项】：
1.一种切割太阳能电池片的IV和EL检测方法，其特征在于：包括如下步骤：S1：对太阳能电池片进行激光或物理刻化；S2：对刻化后但未裂开的电池片进行IV和EL检测；S3：对完成IV和EL检测的太阳能电池片进行裂片。
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H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置；专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理；集成电路器件或其特殊部件的制造
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