[发明专利]一种基于单片机的自动测试电路系统在审
| 申请号： | 201810394085.4 | 申请日： | 2018-04-27 |
| 公开（公告）号： | CN108845240A | 公开（公告）日： | 2018-11-20 |
| 发明（设计）人： | 原阔;高桂革 | 申请（专利权）人： | 上海电机学院 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 上海伯瑞杰知识产权代理有限公司 31227 | 代理人： | 孟旭彤 |
| 地址： | 200240 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开一种基于单片机的自动测试电路系统，目的在于解决现有的测试系统只能测试单一种类的电路部件的问题，其包括待测电路单元、测试单元、电源系统；测试单元包括单片机、时参输入模块、短路检测模块、测试报警模块、存储显示模块、转换控制芯片、电源信号模块、开关信号模块以及放电信号模块；待测电路单元包括N个待测电路。本发明通过单片机根据时参输入模块输入的时间参数对转换控制芯片选择待测电路进行测试，同时还通过短路检测模块进行短路检测等，克服了现有测试只能测试单一种类的电路部件的问题，简化了测试过程。 | ||
| 搜索关键词： | 待测电路 单片机 测试 短路检测模块 转换控制芯片 自动测试电路 测试单元 电路部件 输入模块 电源信号模块 开关信号模块 报警模块 测试过程 测试系统 电源系统 短路检测 放电信号 时间参数 显示模块 存储 | ||
【主权项】：
1.一种基于单片机的自动测试电路系统，所述基于单片机的自动测试电路系统包括待测电路单元，其特征在于：所述基于单片机的自动测试电路系统包括测试单元以及为所述测试单元提供工作电压的电源系统；所述测试单元包括单片机、用于接受时间参数设定的时参输入模块、用于检测所述待测电路的短路状态的短路检测模块、用于测试待测电路以及提示报警的测试报警模块、用于存储和显示所述待测电路的测试数据的存储显示模块、用于从所述待测电路单元中选择待测电路的转换控制芯片、用于管控待测电路的工作电压的电源信号模块、用于控制待测电路的通电状态的开关信号模块以及用于控制所述待测电路放电状态的放电信号模块；所述待测电路单元包括N个待测电路，其中N为大于1的自然数；所述时参输入模块、短路检测模块、测试报警模块、存储显示模块、电源信号模块、放电信号模块、开关信号模块以及转换控制芯片分别与所述单片机连接；所述电源信号模块、放电信号模块、开关信号模块以及所述N个待测电路分别与所述转换控制芯片连接。
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