[发明专利]像素电路的检测方法、显示面板的驱动方法和显示面板有效
| 申请号： | 201810386462.X | 申请日： | 2018-04-26 |
| 公开（公告）号： | CN108597449B | 公开（公告）日： | 2020-04-21 |
| 发明（设计）人： | 宋丹娜 | 申请（专利权）人： | 京东方科技集团股份有限公司 |
| 主分类号： | G09G3/3233 | 分类号： | G09G3/3233 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人： | 彭久云 |
| 地址： | 100015 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 一种像素电路的检测方法以及显示面板及其驱动方法。像素电路包括驱动晶体管，驱动晶体管包括栅极和第一极，驱动晶体管的第一极与感测线连接。检测方法包括：在参考充电周期，向驱动晶体管的栅极施加参考数据电压，在施加参考数据电压后的第一时长，从感测线获得基准电压；在数据充电周期，向驱动晶体管的栅极施加不同于参考数据电压的检测数据电压，在施加检测数据电压后的第一时长，从感测线获得初始感测电压。至少基于基准电压和初始感测电压获得像素电路的感测电压，并基于感测电压获得驱动晶体管的阈值电压。该像素电路的检测方法可以消除环境噪声对于驱动晶体管的阈值电压检测的不利影响。 | ||
| 搜索关键词： | 像素 电路 检测 方法 显示 面板 驱动 | ||
【主权项】：
1.一种像素电路的检测方法，所述像素电路包括驱动晶体管，所述驱动晶体管包括栅极和第一极，所述驱动晶体管的第一极与感测线连接，所述检测方法包括：在参考充电周期，向所述驱动晶体管的栅极施加参考数据电压以通过所述驱动晶体管的第一极对所述感测线充电，在施加所述参考数据电压后的第一时长，从所述感测线获得基准电压；在数据充电周期，向所述驱动晶体管的栅极施加不同于所述参考数据电压的检测数据电压以通过所述驱动晶体管的第一极对所述感测线充电，在施加所述检测数据电压后的所述第一时长，从所述感测线获得初始感测电压；其中，至少基于所述基准电压和所述初始感测电压获得所述像素电路的感测电压，并基于所述感测电压获得所述驱动晶体管的阈值电压。
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