[发明专利]像素电路的检测方法、显示面板的驱动方法和显示面板

说明书

一种像素电路的检测方法以及显示面板及其驱动方法。像素电路包括驱动晶体管，驱动晶体管包括栅极和第一极，驱动晶体管的第一极与感测线连接。检测方法包括：在参考充电周期，向驱动晶体管的栅极施加参考数据电压，在施加参考数据电压后的第一时长，从感测线获得基准电压；在数据充电周期，向驱动晶体管的栅极施加不同于参考数据电压的检测数据电压，在施加检测数据电压后的第一时长，从感测线获得初始感测电压。至少基于基准电压和初始感测电压获得像素电路的感测电压，并基于感测电压获得驱动晶体管的阈值电压。该像素电路的检测方法可以消除环境噪声对于驱动晶体管的阈值电压检测的不利影响。

技术领域

本公开的实施例涉及一种像素电路的检测方法、显示面板的驱动方法和显示面板。

背景技术

有机发光二极管(Organic Light Emitting Diode，OLED)显示器件具有视角宽、对比度高、响应速度快等特点。并且，相比于无机发光显示器件，有机发光二极管显示器件具有更高的发光亮度、更低的驱动电压等优势。由于具有上述特点和优势，有机发光二极管(OLED)显示器件逐渐受到人们的广泛关注并且可以适用于手机、显示器、笔记本电脑、数码相机、仪器仪表等具有显示功能的装置。

发明内容

本公开的至少一个实施例提供了一种像素电路的检测方法，所述像素电路包括驱动晶体管，所述驱动晶体管包括栅极和第一极，所述驱动晶体管的第一极与感测线连接，所述检测方法包括：在参考充电周期，向所述驱动晶体管的栅极施加参考数据电压以通过所述驱动晶体管的第一极对所述感测线充电，在施加所述参考数据电压后的第一时长，从所述感测线获得基准电压；在数据充电周期，向所述驱动晶体管的栅极施加不同于所述参考数据电压的检测数据电压以通过所述驱动晶体管的第一极对所述感测线充电，在施加所述检测数据电压后的所述第一时长，从所述感测线获得初始感测电压。至少基于所述基准电压和所述初始感测电压获得所述像素电路的感测电压，并基于所述感测电压获得所述驱动晶体管的阈值电压。

本公开的至少一个实施例还提供了一种显示面板的驱动方法，所述显示面板包括像素电路和感测线，所述像素电路包括驱动晶体管，所述驱动晶体管包括栅极和第一极，所述感测线与所述驱动晶体管的第一极连接，所述驱动方法包括：对所述像素电路执行本公开任一实施例提供的所述的检测方法，以获得所述像素电路的驱动晶体管的阈值电压。

本公开的至少一个实施例又提供了一种显示面板，该显示面板包括像素电路、感测线和控制电路。所述像素电路包括驱动晶体管，所述驱动晶体管包括栅极和第一极，所述感测线与所述驱动晶体管的第一极连接；所述控制电路配置为执行本公开任一实施例提供的检测方法或本公开任一实施例提供的显示面板的驱动方法。

附图说明

为了更清楚地说明本公开实施例的技术方案，下面将对实施例的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅涉及本公开的一些实施例，而非对本公开的限制。

图1A是一种像素电路的示意图；

图1B是另一种像素电路的示意图；

图1C是再一种像素电路的示意图；

图1D是在关机期间获取参考感测电压和截止感测电压的驱动时序图；

图1E是在开机期间检测驱动晶体管的阈值电压的驱动时序图；

图1F是在关机期间获取多个像素电路的驱动晶体管的参考感测电压的驱动时序图；

图2是本公开至少一个实施例提供的像素电路的检测方法的示例性流程图；

图3A是一种像素电路的示意图；

图3B是另一种像素电路的示意图；

图4A是图3B是示出的像素电路的一种驱动时序图；