[发明专利]脉冲磁场测量方法以及相应的装置有效
| 申请号： | 201810365416.1 | 申请日： | 2018-04-23 |
| 公开（公告）号： | CN108519567B | 公开（公告）日： | 2019-10-25 |
| 发明（设计）人： | 朱保君;张喆;李玉同 | 申请（专利权）人： | 中国科学院物理研究所 |
| 主分类号： | G01R33/032 | 分类号： | G01R33/032 |
| 代理公司： | 北京泛华伟业知识产权代理有限公司 11280 | 代理人： | 王勇;李科 |
| 地址： | 100190 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供一种脉冲磁场测量方法，包括如下步骤：步骤一：将啁啾脉冲与待测脉冲磁场同步地施加在磁光晶体上；步骤二：将从所述磁光晶体出射的光分成偏振方向相互垂直的寻常光和异常光；步骤三：采集所述寻常光和所述异常光的光谱分布图；步骤四：将所述待测脉冲磁场关闭，重复所述步骤二和所述步骤三；以及步骤五：基于所述啁啾脉冲的波长变化和时间演化之间的关系、有脉冲磁场作用的寻常光和异常光的光谱分布图、以及没有脉冲磁场作用的寻常光和异常光的光谱分布图，计算得到所述待测脉冲磁场的强度随时间的变化关系。本发明的脉冲磁场测量方法不受电磁干扰的影响，时间分辨率高。 | ||
| 搜索关键词： | 异常光 脉冲磁场测量 光谱分布图 脉冲磁场 脉冲磁场作用 磁光晶体 啁啾脉冲 时间分辨率 变化关系 波长变化 电磁干扰 垂直的 出射 偏振 采集 施加 重复 | ||
【主权项】：
1.一种脉冲磁场测量方法，包括如下步骤：步骤一：将啁啾脉冲与待测脉冲磁场同步地施加在磁光晶体上；步骤二：将从所述磁光晶体出射的光分成偏振方向相互垂直的寻常光和异常光；步骤三：采集所述寻常光和所述异常光的光谱分布图；步骤四：将所述待测脉冲磁场关闭，重复所述步骤二和所述步骤三；以及步骤五：基于所述啁啾脉冲的波长变化和时间演化之间的关系、有脉冲磁场作用的寻常光和异常光的光谱分布图、以及没有脉冲磁场作用的寻常光和异常光的光谱分布图，计算得到所述待测脉冲磁场的强度随时间的变化关系。
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