[发明专利]一种双波长偏振光散射测量颗粒物的方法及装置在审
| 申请号： | 201810362488.0 | 申请日： | 2018-04-20 |
| 公开（公告）号： | CN108844865A | 公开（公告）日： | 2018-11-20 |
| 发明（设计）人： | 曾楠;展东剑;何永红;马辉 | 申请（专利权）人： | 清华大学深圳研究生院 |
| 主分类号： | G01N15/02 | 分类号： | G01N15/02;G01N15/00 |
| 代理公司： | 深圳新创友知识产权代理有限公司 44223 | 代理人： | 王震宇 |
| 地址： | 518055 广东*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 一种双波长偏振光散射测量颗粒物的方法及装置，所述方法包括：1)将待测颗粒物样品以恒定速度流过散射腔测试区，激光经偏振处理后照射测试区；使入射激光偏振态为水平线偏振，测量入射光经当前颗粒物散射后特定角度散射光的Stokes向量(S0,S1,S2,S3)T，计算Hdop作为反映颗粒物形态的主指标，计算Pdop作为反映颗粒物吸收的主指标，计算Rdop作为反映颗粒物成分的主指标；3)使入射激光偏振态为45°线偏振，其余操作同步骤2)；4)使入射激光偏振态为右旋圆偏振，其余操作同步骤2)；5)通过获得的指标集，分析出当前颗粒物的综合属性。本发明的方法可实现对颗粒物的综合属性进行在线快速全方位分析。此外，本发明的装置可以最大化减少探测器的数量。 | ||
| 搜索关键词： | 颗粒物 入射激光 偏振态 偏振光 散射测量 综合属性 测试区 双波长 恒定 角度散射光 颗粒物样品 右旋圆偏振 偏振处理 入射光 散射腔 线偏振 指标集 最大化 散射 探测器 偏振 向量 激光 照射 测量 分析 吸收 | ||
【主权项】：
1.一种双波长偏振光散射测量颗粒物的方法，其特征在于，包括以下步骤：1)将待测颗粒物样品以恒定速度流过散射腔测试区，使用不同波长的两路激光经偏振处理后照射所述测试区；2)使入射激光偏振态为水平线偏振，测量入射光经当前颗粒物散射后特定角度散射光的Stokes向量(S0,S1,S2,S3)T，计算Hdop作为反映颗粒物形态的主指标，计算Pdop作为反映颗粒物吸收的主指标，计算Rdop作为反映颗粒物成分的主指标；3)使入射激光偏振态为45°线偏振，其余操作同步骤2)；4)使入射激光偏振态为右旋圆偏振，其余操作同步骤2)；5)通过获得的指标集，分析出当前颗粒物的综合属性。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于清华大学深圳研究生院，未经清华大学深圳研究生院许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201810362488.0/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种前散射测尘仪样气池用光电检测电路
- 下一篇：纳米颗粒追踪装置
