[发明专利]光模块测试方法、系统、电路及光模块在审
| 申请号： | 201810342002.7 | 申请日： | 2018-04-17 |
| 公开（公告）号： | CN108551360A | 公开（公告）日： | 2018-09-18 |
| 发明（设计）人： | 刘澍;王魁;石良;谭祖炜 | 申请（专利权）人： | 青岛海信宽带多媒体技术有限公司 |
| 主分类号： | H04B10/071 | 分类号： | H04B10/071 |
| 代理公司： | 北京弘权知识产权代理事务所(普通合伙) 11363 | 代理人： | 逯长明;许伟群 |
| 地址： | 266555 山东省青*** | 国省代码： | 山东;37 |
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| 摘要： | 本申请实施例公开了一种光模块测试方法、系统、电路及光模块，获取APD工作电流所对应的当前ADC值；判断当前ADC值是否大于预设ADC值；若是，则确定当前ADC值所指示的当前APD工作电压，基于当前APD工作电压确定目标DAC值，基于目标DAC值和测试门限值确定测试DAC值，测试DAC值用于测试光模块；否则，增大当前ADC值。根据当前ADC值与预设ADC值的比较，并根据比较结果对当前ADC值进行调整，确定出当前ADC值大于预设ADC值时的目标DAC值，进而根据目标DAC值和测试门限值确定出测试DAC值进行光模块测试，保证了光模块测试时的OTDR指标。 | ||
| 搜索关键词： | 光模块测试 测试 预设 光模块 门限 电路 工作电流 测试光 申请 保证 | ||
【主权项】：
1.一种光模块测试方法，其特征在于，所述方法包括：获取APD工作电流所对应的当前ADC值，其中，ADC值用于指示APD工作电压；判断所述当前ADC值是否大于预设ADC值；若是，则确定所述当前ADC值所指示的当前APD工作电压，基于所述当前APD工作电压确定目标DAC值，基于所述目标DAC值和测试门限值确定测试DAC值，所述测试DAC值用于测试光模块，其中，所述测试DAC值小于所述目标DAC值；否则，增大所述当前ADC值。
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