[发明专利]光模块测试方法、系统、电路及光模块

说明书

本申请实施例公开了一种光模块测试方法、系统、电路及光模块，获取APD工作电流所对应的当前ADC值；判断当前ADC值是否大于预设ADC值；若是，则确定当前ADC值所指示的当前APD工作电压，基于当前APD工作电压确定目标DAC值，基于目标DAC值和测试门限值确定测试DAC值，测试DAC值用于测试光模块；否则，增大当前ADC值。根据当前ADC值与预设ADC值的比较，并根据比较结果对当前ADC值进行调整，确定出当前ADC值大于预设ADC值时的目标DAC值，进而根据目标DAC值和测试门限值确定出测试DAC值进行光模块测试，保证了光模块测试时的OTDR指标。

技术领域

本申请涉及光模块技术领域，尤其涉及一种光模块测试方法、系统、电路及光模块。

背景技术

光纤测试是光纤通信领域广泛应用的专门技术，基于OTDR(Optical Time DomainReflectometer，光时域反射仪)的光纤测试具有时间短、速度快、精度高等优点，因此广泛应用于光纤通信测试中。为了满足光纤检测的需要，光模块内置OTDR的技术不断发展，OTDR光模得到广泛应用。

OTDR主要利用光纤传播过程中的“瑞利散射”和“菲涅尔反射”两个原理，盲区和动态范围是OTDR的最关键指标。OTDR的动态范围为初始背向瑞利散射电平与噪声电平的分贝差值，动态范围越大，可测距离越长。盲区是指受菲涅尔反射影响，光电探测器饱和，在一定范围内OTDR曲线无法反映光纤线路状态的部分。为获得更大的动态范围，OTDR的光电探测器一般选用APD(Avalanche Photo Diode，雪崩光电二极管)器件，增加链路远端反射弱光的识别能力，提高动态范围，APD的反向击穿以及暗电流噪声对工作电压VOP非常敏感，如何保证APD的反向击穿与暗电流在最优范围，VOP是主要因素，也是提高动态范围的关键；对于盲区指标，如何让近端反射脉冲和反射饱和后快速恢复到正常电平，也需要APD工作在合适的电压范围。

现有技术中一般采用简单固定LUT表补偿APD的方式来保证OTDR指标，但是由于不同的OTDR对应的工作电压VOP存在差异以及APD本身的温漂及VBR离散型，单纯使用固定LUT表补偿APD工作电压VOP方式无法实现良好的OTDR指标，不能保证光模块的测试性能。

发明内容

本申请提供了一种光模块测试方法、系统、电路及光模块，以解决传统光模块测试时使用简单固定LUT表补偿APD不能保证APD的倍增相应在最优范围，影响OTDR指标的问题。

为了解决上述技术问题，本申请实施例公开了如下技术方案：

第一方面，本申请实施例提供了一种光模块测试方法，包括：获取APD工作电流所对应的当前ADC(Analog-to-Digital Converter，模数转换器)值，当前ADC值用于指示APD工作电压；判断当前ADC值是否大于预设ADC值；若是，则确定当前ADC值所指示的当前APD工作电压，基于当前APD工作电压确定目标DAC(Digital to analog converter，数模转换器)值，基于目标DAC值和测试门限值确定测试DAC值，测试DAC值用于测试光模块，其中，测试DAC值小于目标DAC值；否则，增大当前ADC值。根据当前ADC值与预设ADC值的比较，并根据比较结果对当前ADC值进行调整，确定出当前ADC值大于预设ADC值时的目标DAC值，进而根据目标DAC值和测试门限值确定出测试DAC值进行光模块测试，保证了光模块测试时的OTDR指标。