[发明专利]基于FBG传感器阵列光谱的裂纹损伤监测与应变场测量方法在审
申请号: | 201810333302.9 | 申请日: | 2018-04-13 |
公开(公告)号: | CN108562490A | 公开(公告)日: | 2018-09-21 |
发明(设计)人: | 文晓艳;郑漫琳 | 申请(专利权)人: | 武汉理工大学 |
主分类号: | G01N3/08 | 分类号: | G01N3/08;G01N3/06 |
代理公司: | 湖北武汉永嘉专利代理有限公司 42102 | 代理人: | 许美红 |
地址: | 430070 湖*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | 本发明公开了一种基于FBG传感器阵列光谱的裂纹损伤监测与应变场测量方法,包括以下步骤:1选择待测试件;2对待测试件进行结构力学分析;3在试件上粘贴传感器;4将粘贴光纤布拉格光栅传感器的试件进行加载实验,确定实验系统;5对得到的一系列光谱进行分析,探究光谱特征参量与裂纹初始位置、裂纹扩展状况的对应关系;6将FBG传感器得到的应力应变与距离曲线与有限元模拟结果进行对比。通过上述步骤,实现了对裂纹损伤监测及裂纹尖端应力场测量,达到了距离裂纹损伤的远近与光谱的对应关系,并可通过实验验证这种方法测量裂纹尖端应变场的可行性。 | ||
搜索关键词: | 裂纹损伤 应变场 裂纹尖端 阵列光谱 测量 试件 光谱 粘贴 监测 光纤布拉格光栅传感器 结构力学分析 待测试件 方法测量 光谱特征 裂纹扩展 模拟结果 实验系统 实验验证 应力应变 测试件 应力场 传感器 参量 加载 分析 | ||
【主权项】:
1.一种基于FBG传感器阵列光谱的裂纹损伤监测与应变场测量方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤1:选定待测试件,找到待测试件上的裂纹;步骤2:对待测试件进行结构力学分析,具体对待测试件进行有限元仿真分析,确定裂纹尖端的应力应变分布情况:在有限元分析前需要确定外界加载条件及试件材料、弹性模量、泊松比及相关参数,明确监测裂纹尖端的应变场分布;根据已经确定的实验条件,对试件利用有限元仿真软件进行有限元分析,得到裂纹尖端附近区域的应力值;步骤3:在待测试件上粘贴光纤光栅传感器阵列,具有根据裂纹扩展情况,在与裂纹扩展方向垂直方向上粘贴光纤光栅传感器阵列,根据有限元模拟结果,确定FBG传感器的布置及数量,使布置的传感器明确感知裂纹尖端应变梯度及其变化趋势;步骤4:将粘贴了FBG传感器阵列的待测试件安装在力学试验机上,并选择光纤光栅传感系统模型为反射式模型;步骤5:通过光谱仪记录光谱并进行分析,主要是分析裂纹尖端不同距离处的FBG光谱的波长漂移量和光谱宽度;步骤6:根据步骤5中FBG传感器阵列得到的裂纹尖端的应力场和步骤3中根据有限元模拟的裂纹尖端应力场进行对别验证,并根据FBG传感器光谱的波长漂移量定量监测裂纹位置。
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