[发明专利]一种基于磁共振成像的光散射测量装置在审
| 申请号： | 201810329537.0 | 申请日： | 2018-04-13 |
| 公开（公告）号： | CN108535673A | 公开（公告）日： | 2018-09-14 |
| 发明（设计）人： | 刘子龙;蒋依芹;甘海勇;张巧香 | 申请（专利权）人： | 中国计量科学研究院 |
| 主分类号： | G01R33/48 | 分类号： | G01R33/48;G01R33/44 |
| 代理公司： | 北京德琦知识产权代理有限公司 11018 | 代理人： | 闫焕娟;宋志强 |
| 地址： | 100013 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种基于磁共振成像的光散射测量装置，用于测量样品表面对光散射强度的分布，包括：筒形骨架、射频线圈、梯度线圈、筒形磁体，筒形骨架的周壁的内表面包围形成样品放置腔；射频线圈缠绕于筒形骨架的周壁的外表面；梯度线圈缠绕于射频线圈的外层；筒形磁体环绕在梯度线圈的外层；多条光纤，多条光纤分别在筒形骨架的多个径向角度上穿透筒形骨架的周壁，并且多条光纤的末端在样品放置腔内暴露，以允许来自多条光纤的光束馈入样品放置腔、以及样品放置腔内的散射光从多条光纤馈出。该基于磁共振成像的光散射测量装置的测量效率高，准确性高，并且通过磁共振成像获得连续的光散射强度分布的灰度图，可提供连续的光散射强度的信号值。 | ||
| 搜索关键词： | 筒形骨架 磁共振成像 样品放置 光纤 光散射测量装置 射频线圈 梯度线圈 周壁 光散射 腔内 筒形 缠绕 测量样品表面 测量效率 强度分布 灰度图 内表面 散射光 散射 馈入 穿透 环绕 包围 暴露 | ||
【主权项】：
1.一种基于磁共振成像的光散射测量装置，用于测量样品表面对光散射强度的分布，其特征在于，所述基于磁共振成像的光散射测量装置包括：筒形骨架，所述筒形骨架的周壁的内表面包围形成样品放置腔；射频线圈，所述射频线圈缠绕于所述筒形骨架的周壁的外表面；梯度线圈，所述梯度线圈缠绕于所述射频线圈的外层；筒形磁体，所述筒形磁体环绕在所述梯度线圈的外层；多条光纤，所述多条光纤分别在所述筒形骨架的多个径向角度上穿透所述筒形骨架的周壁，并且所述多条光纤的末端在所述样品放置腔内暴露，以允许来自所述多条光纤的光束馈入所述样品放置腔、以及所述样品放置腔内的散射光从所述多条光纤馈出。
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