[发明专利]一种基于磁共振成像的光散射测量装置在审
| 申请号: | 201810329537.0 | 申请日: | 2018-04-13 |
| 公开(公告)号: | CN108535673A | 公开(公告)日: | 2018-09-14 |
| 发明(设计)人: | 刘子龙;蒋依芹;甘海勇;张巧香 | 申请(专利权)人: | 中国计量科学研究院 |
| 主分类号: | G01R33/48 | 分类号: | G01R33/48;G01R33/44 |
| 代理公司: | 北京德琦知识产权代理有限公司 11018 | 代理人: | 闫焕娟;宋志强 |
| 地址: | 100013 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 筒形骨架 磁共振成像 样品放置 光纤 光散射测量装置 射频线圈 梯度线圈 周壁 光散射 腔内 筒形 缠绕 测量样品表面 测量效率 强度分布 灰度图 内表面 散射光 散射 馈入 穿透 环绕 包围 暴露 | ||
1.一种基于磁共振成像的光散射测量装置,用于测量样品表面对光散射强度的分布,其特征在于,所述基于磁共振成像的光散射测量装置包括:
筒形骨架,所述筒形骨架的周壁的内表面包围形成样品放置腔;
射频线圈,所述射频线圈缠绕于所述筒形骨架的周壁的外表面;
梯度线圈,所述梯度线圈缠绕于所述射频线圈的外层;
筒形磁体,所述筒形磁体环绕在所述梯度线圈的外层;
多条光纤,所述多条光纤分别在所述筒形骨架的多个径向角度上穿透所述筒形骨架的周壁,并且所述多条光纤的末端在所述样品放置腔内暴露,以允许来自所述多条光纤的光束馈入所述样品放置腔、以及所述样品放置腔内的散射光从所述多条光纤馈出。
2.根据权利要求1所述的基于磁共振成像的光散射测量装置,其特征在于,所述基于磁共振成像的光散射测量装置进一步包括:
光源发生器,所述光源发生器具有与用于馈入光束的所述多条光纤连接的光源馈入端;
波形仪,所述波形仪具有从所述射频线圈和所述梯度线圈接收磁共振信号的信号输入端,以及输出磁共振光散射分布图的图形输出端;
光探测器,所述光探测器具有从用于馈出散射光的所述多条光纤接收所述散射光的光输入端,以及输出与从所述散射光相对应的光散射强度信号值的信号值输出端。
3.根据权利要求2所述的基于磁共振成像的光散射测量装置,其特征在于,所述基于磁共振成像的光散射测量装置进一步包括:
处理器,所述处理器具有从所述波形仪的图形输出端接收磁共振光散射分布图的图像输入端、从所述光探测器的信号值输出端接收所述光散射强度信号值的信号值输入端、以及输出连续光散射分布图的图形输出端。
4.根据权利要求1所述的基于磁共振成像的光散射测量装置,其特征在于,所述筒形骨架的周壁的外表面具有突出于外表面且周向设置的凸起,所述凸起开设供所述多条光纤穿透所述筒形骨架周壁的多个通孔,用于固定馈出散射光束的所述多条光纤的所述通孔、用于固定馈入入射光束的所述多条光纤的通孔交错布置。
5.根据权利要求4所述的基于磁共振成像的光散射测量装置,其特征在于,所述多个通孔沿所述筒形骨架的周向呈多个环形排布。
6.根据权利要求5所述的基于磁共振成像的光散射测量装置,其特征在于,位于相邻环形上的两个所述通孔在周向上错位设置。
7.根据权利要求4所述的基于磁共振成像的光散射测量装置,其特征在于,所述通孔位于所述筒形骨架外表面的孔口处设置与所述通孔同轴的紧固筒,所述多条光纤的端部均连接光纤跳线,所述紧固筒在径向方向夹紧所述多条光纤端部的所述光纤跳线。
8.根据权利要求7所述的基于磁共振成像的光散射测量装置,其特征在于,所述紧固筒的周壁沿其轴向开设豁口以使所述紧固筒在径向具有形变空间,所述紧固筒的周壁配合顶丝夹紧所述光纤跳线。
9.根据权利要求1所述的基于磁共振成像的光散射测量装置,其特征在于,用于馈入光束的所述多条光纤的暴露端连接准直头。
10.根据权利要求1所述的基于磁共振成像的光散射测量装置,其特征在于,所述筒形骨架的端口边缘具有垂直于所述筒形骨架的周壁的环形盘,且所述环形盘开设引导并固定所述多条光纤的限位孔。
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