[发明专利]一种单光子探测器探测效率失配度的检测装置及方法有效
| 申请号： | 201810320198.X | 申请日： | 2018-04-11 |
| 公开（公告）号： | CN108667527B | 公开（公告）日： | 2019-11-22 |
| 发明（设计）人： | 孟祥栋;费洋扬;马智;高明;王洪;段乾恒;闫宝 | 申请（专利权）人： | 中国人民解放军战略支援部队信息工程大学 |
| 主分类号： | H04B10/70 | 分类号： | H04B10/70;H04B10/50;H04B10/54;H04B10/67;H04B10/69;H04L9/08;G01J11/00 |
| 代理公司： | 41111 郑州大通专利商标代理有限公司 | 代理人： | 陈勇<国际申请>=<国际公布>=<进入国 |
| 地址： | 450000 河*** | 国省代码： | 河南;41 |
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| 摘要： | 本发明提供一种单光子探测器探测效率失配度的检测装置及方法。该装置包括：第一激光器、第二激光器、第一光衰减器、第二光衰减器、第三光衰减器、保偏偏振合束器以及光纤，第一激光器、第一光衰减器、保偏偏振合束器和第三光衰减器通过光纤依次相连接，第二激光器、第二光衰减器、保偏偏振合束器和第三光衰减器通过光纤依次相连接；以及第一延迟器、第二延迟器和FPGA芯片，第一延迟器分别与FPGA芯片和第一激光器电连接，第二延迟器分别与FPGA芯片和第二激光器电连接，FPGA芯片与待测单光子探测器电连接。该方法基于上述检测装置输出检测光，通过FPGA芯片与待测单光子探测器进行数据交互得到DEM值。本发明结构简单，能够提升QKD系统的安全性。 | ||
| 搜索关键词： | 光衰减器 激光器 单光子探测器 电连接 合束器 第二延迟器 第一延迟器 光纤 检测装置输出 检测装置 数据交互 探测效率 检测光 失配度 | ||
【主权项】：
1.一种单光子探测器探测效率失配度的检测装置，其特征在于，包括：光学模块和电学模块；其中，/n所述光学模块包括第一激光器、第二激光器、第一光衰减器、第二光衰减器、第三光衰减器、保偏偏振合束器以及光纤，所述第一激光器、所述第一光衰减器、所述保偏偏振合束器和所述第三光衰减器通过所述光纤依次相连接，所述第二激光器、所述第二光衰减器、所述保偏偏振合束器和所述第三光衰减器通过所述光纤依次相连接；/n所述电学模块包括第一延迟器、第二延迟器和FPGA芯片，所述第一延迟器分别与所述FPGA芯片和所述第一激光器电连接，所述第二延迟器分别与所述FPGA芯片和所述第二激光器电连接，所述FPGA芯片与待测单光子探测器电连接。/n
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