[发明专利]一种背钻孔到线的能力测试模块及能力测试方法在审

专利信息
申请号: 201810317682.7 申请日: 2018-04-10
公开(公告)号: CN108303639A 公开(公告)日: 2018-07-20
发明(设计)人: 纪成光;王小平;何思良;陈正清;袁继旺;焦其正 申请(专利权)人: 生益电子股份有限公司
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 张春水;唐京桥
地址: 523127 广东省东莞*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明涉及PCB技术领域,公开了一种背钻孔到线的能力测试模块及能力测试方法。所述能力测试模块包括至少一层位于背钻钻穿层的内层图形;能力测试模块上开设有至少一个第一测试通孔、多个金属化通孔,两个第二测试通孔,及多个金属化的背钻孔;第一测试通孔与内层图形一一对应;每个第一测试通孔与对应的内层图形相导通,与其它内层图形不导通;各个金属化的背钻孔依次串联形成一链路,两个第二测试通孔分别连接至链路的两端;每个背钻孔与一个金属化通孔对应设置,且所述背钻孔的孔径大于对应金属化通孔的孔径。应用本发明实施例不仅可以简单、快速且有效测试出背钻孔与内层图形的距离能力,而且能够准确地确定出距离能力不足的具体位置。
搜索关键词: 背钻孔 能力测试 测试通孔 内层 金属化通孔 金属化 导通 链路 能力不足 依次串联 有效测试 背钻 钻穿 应用
【主权项】:
1.一种背钻孔到线的能力测试模块,安装于PCB板的板边,包括至少一层位于背钻钻穿层的内层图形;其特征在于,所述能力测试模块上开设有至少一个第一测试通孔、多个金属化通孔,两个第二测试通孔,及多个金属化的背钻孔;所述第一测试通孔与所述内层图形一一对应;每个第一测试通孔与对应的内层图形相导通,与其它内层图形不导通;各个所述金属化的背钻孔依次串联形成一链路,两个所述第二测试通孔分别连接至所述链路的两端,且所述第二测试通孔与所有内层图形都不导通;每个所述背钻孔与一个所述金属化通孔对应设置,且所述背钻孔的孔径大于对应金属化通孔的孔径。
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