[发明专利]一种用于NAND FLASH的LDPC测试平台在审
| 申请号： | 201810315076.1 | 申请日： | 2018-04-10 |
| 公开（公告）号： | CN108564983A | 公开（公告）日： | 2018-09-21 |
| 发明（设计）人： | 徐光明;后嘉伟;虞安华 | 申请（专利权）人： | 南京扬贺扬微电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/42 | 分类号： | G11C29/42;G11C29/56 |
| 代理公司： | 南京苏高专利商标事务所(普通合伙) 32204 | 代理人： | 颜盈静 |
| 地址： | 211800 江苏省南*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种用于NAND FLASH的LDPC测试平台，该测试平台先产生一定长度的随机数，把随机数和校验信息写入FLASH，再读取FLASH送入译码器译码，最后统计错误信息。 | ||
| 搜索关键词： | 测试平台 随机数 读取 译码器译码 错误信息 校验信息 送入 写入 统计 | ||
【主权项】：
1.一种用于NAND FLASH的LDPC的测试平台，其特征在于：包括随机数产生模块，根据需要的信息长度产生随机数、编码模块，根据输入的信息长度和矩阵产生校验信息、NAND FLASH控制模块，用于和NAND FLASH进行数据交换，NAND FLASH控制器把信息位和校验位写入FLASH、译码模块，把从FLASH读出的hard information和soft information数据送入译码器进行译码，输入的是hard information和soft information，输出的结果是hard information、和误码检测模块，用于统计错误信息，比较译码后的数据和随机发生器的数据，统计误码率。
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