[发明专利]一种用于NAND FLASH的LDPC测试平台在审
| 申请号: | 201810315076.1 | 申请日: | 2018-04-10 |
| 公开(公告)号: | CN108564983A | 公开(公告)日: | 2018-09-21 |
| 发明(设计)人: | 徐光明;后嘉伟;虞安华 | 申请(专利权)人: | 南京扬贺扬微电子科技有限公司 |
| 主分类号: | G11C29/42 | 分类号: | G11C29/42;G11C29/56 |
| 代理公司: | 南京苏高专利商标事务所(普通合伙) 32204 | 代理人: | 颜盈静 |
| 地址: | 211800 江苏省南*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 测试平台 随机数 读取 译码器译码 错误信息 校验信息 送入 写入 统计 | ||
1.一种用于NAND FLASH的LDPC的测试平台,其特征在于:包括
随机数产生模块,根据需要的信息长度产生随机数、
编码模块,根据输入的信息长度和矩阵产生校验信息、
NAND FLASH控制模块,用于和NAND FLASH进行数据交换,NAND FLASH控制器把信息位和校验位写入FLASH、
译码模块,把从FLASH读出的hard information和soft information数据送入译码器进行译码,输入的是hard information和soft information,输出的结果是hardinformation、和
误码检测模块,用于统计错误信息,比较译码后的数据和随机发生器的数据,统计误码率。
2.根据权利要求1所述的一种用于NAND FLASH的LDPC的测试平台,其特征在于:所述随机数产生模块采用LFSR结构,包括若干寄存器,所述寄存器的初始值为0或1。
3.根据权利要求1或2所述的一种用于NAND FLASH的LDPC的测试平台,其特征在于:所述随机数产生模块得到周期为128的随机数。
4.根据权利要求1所述的一种用于NAND FLASH的LDPC的测试平台,其特征在于:所述编码模块采用SARR结构包括位移寄存器和累加电路。
5.根据权利要求1所述的一种用于NAND FLASH的LDPC的测试平台,其特征在于:所述NAND FLASH控制模块包括把FLASH的hard information和soft information读出来送入译码模块进行译码的读控制部分、把编码模块送入的信息位和校验位写入NAND FLASH的写控制部分和实现对NAND FLASH的块擦除的擦除控制部分。
6.根据权利要求1所述的一种用于NAND FLASH的LDPC的测试平台,其特征在于:所述译码模块采用NMS解码包括输入模块、输出模块、存储单元、变量节点计算单元和校验节点计算单元,变量节点计算单元负责变量节点的更新,校验节点计算单元负责校验节点的更新,每次迭代的中间结果保存在存贮单元中。
7.根据权利要求1所述的一种用于NAND FLASH的LDPC的测试平台,其特征在于:误码检测模块包括比较器和UART模块,该比较器负责比较随机数发生器的数据和解码后的数据,并统计出错误个数,UART负责把错误个数的信息发送到PC端。
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