[发明专利]一种测试控制电路及控制方法、显示基板、显示装置有效
| 申请号： | 201810313019.X | 申请日： | 2018-04-09 |
| 公开（公告）号： | CN108492758B | 公开（公告）日： | 2021-03-26 |
| 发明（设计）人： | 姜瑞泽;任艳伟;方业周;徐敬义;孙世成 | 申请（专利权）人： | 京东方科技集团股份有限公司;鄂尔多斯市源盛光电有限责任公司 |
| 主分类号： | G09G3/00 | 分类号： | G09G3/00 |
| 代理公司： | 北京中博世达专利商标代理有限公司 11274 | 代理人： | 周娟 |
| 地址： | 100015 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开一种测试控制电路及控制方法、显示基板、显示装置，涉及显示技术领域，以防止静电通过测试引线损坏显示面板内部的电子器件，从而保证显示装置显示正常。所述测试控制电路包括至少一个测试端子和至少一个测试引线，每个测试端子与对应的测试引线连接；每个测试引线上设有至少一个开关器件；测试引线处在检测状态，各个测试引线上的所有开关器件导通；测试引线处在非检测状态，各个测试引线上至少一个所述开关器件关断。所述显示基板包括上述技术方案所提的测试控制电路。本发明提供的测试控制电路及控制方法、显示基板、显示装置用于显示技术中。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测试 控制电路 控制 方法 显示 显示装置 | ||
【主权项】：
1.一种测试控制电路，包括至少一个测试端子和至少一个测试引线，至少一个测试端子与至少一个测试引线一一对应，每个所述测试端子与对应的测试引线连接；其特征在于，每个所述测试引线上设有至少一个开关器件；所述测试引线处在检测状态，各个所述测试引线上的所有开关器件导通；所述测试引线处在非检测状态，各个所述测试引线上至少一个所述开关器件关断。
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