[发明专利]一种测试控制电路及控制方法、显示基板、显示装置

说明书

本发明公开一种测试控制电路及控制方法、显示基板、显示装置，涉及显示技术领域，以防止静电通过测试引线损坏显示面板内部的电子器件，从而保证显示装置显示正常。所述测试控制电路包括至少一个测试端子和至少一个测试引线，每个测试端子与对应的测试引线连接；每个测试引线上设有至少一个开关器件；测试引线处在检测状态，各个测试引线上的所有开关器件导通；测试引线处在非检测状态，各个测试引线上至少一个所述开关器件关断。所述显示基板包括上述技术方案所提的测试控制电路。本发明提供的测试控制电路及控制方法、显示基板、显示装置用于显示技术中。

技术领域

本发明涉及显示技术领域，尤其涉及一种测试控制电路及方法、显示基板、显示装置。

背景技术

近年来，随着显示技术发展很快，显示面板的显示和制作水平有了很大的提升，其不仅具有良好的显示效果，而且还能够给用户提供比较好的使用体验。

而为了保证显示面板所显示的画面稳定性，一般在显示面板所包括的显示基板制作与测试端子连接的测试引线，以利用测试引线将测试端子所提供的测试信号传输至显示面板，用来检测显示面板的显示效果。但是，在显示面板制作过程中很容易产生静电，这些静电通过测试端子进入显示面板，导致显示面板内部电子器件损坏，使得显示面板出现显示异常等问题。

发明内容

本发明的目的在于提供一种测试控制电路及控制方法、显示基板、显示装置，以防止静电通过测试引线损坏显示面板内部的电子器件，从而保证显示装置显示正常。

为了实现上述目的，本发明提供如下技术方案：

一种测试控制电路，包括至少一个测试端子和至少一个测试引线，至少一个测试端子与至少一个测试引线一一对应，每个所述测试端子与对应的测试引线连接；每个所述测试引线上设有至少一个开关器件；

所述测试引线处在检测状态，各个所述测试引线上的所有开关器件导通；所述测试引线处在非检测状态，各个所述测试引线上至少一个所述开关器件关断。

与现有技术相比，本发明提供的测试控制电路中，测试端子与对应测试引线连接，这使得测试端子通过测试引线间接与显示信号端子连接；而由于测试引线上设有至少一个开关器件，这使得测试引线处在非检测状态时，可控制测试引线上至少一个开关器件关断，这样在非检测状态，如果有外部静电通过测试端子进入测试引线，测试引线无法将外部静电传导至显示信号端子，这样就能够避免外部静电对显示面板内部电子器件的损坏，从而保证显示装置显示正常。

本发明还提供了一种测试控制方法，应用上述技术方案所述的测试控制电路，所述测试控制方法包括：

在信号测试前，控制至少一个测试引线上的至少一个开关器件关断，使得测试引线处在非检测状态；

在信号检测时，控制至少一个测试引线上所有的开关器件导通，使得至少一个测试引线处在检测状态；

利用至少一个测试端子向对应所述测试引线提供测试信号，至少一个测试引线将测试信号传输至显示面板，使得显示面板根据测试信号显示检测画面。

与现有技术相比，本发明提供的测试控制方法的有益效果与上述技术方案提供的测试控制电路的有益效果相同，在此不做赘述。

本发明还提供了一种显示基板，该显示基板包括上述技术方案提供的测试控制电路。

与现有技术相比，本发明提供的显示基板的有益效果与上述技术方案提供的测试控制电路的有益效果相同，在此不做赘述。

本发明还提供了一种显示装置，该显示装置包括上述技术方案所述的显示面板。

与现有技术相比，本发明提供的显示装置的有益效果与上述技术方案提供的测试控制电路的有益效果相同，在此不做赘述。

附图说明