[发明专利]基于量子弱测量的弱磁场强度测量分析仪及方法有效
| 申请号： | 201810310539.5 | 申请日： | 2018-04-09 |
| 公开（公告）号： | CN108519565B | 公开（公告）日： | 2021-01-22 |
| 发明（设计）人： | 张志友;周航;李威 | 申请（专利权）人： | 四川大学 |
| 主分类号： | G01R33/032 | 分类号： | G01R33/032 |
| 代理公司： | 北京众合诚成知识产权代理有限公司 11246 | 代理人： | 夏艳 |
| 地址： | 610065 四*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种基于量子弱测量的弱磁场强度测量分析仪及方法，利用磁光法拉第效应将待测位置的磁场转换为与光子自旋分裂相关的测量参数。此方法中，光子自旋分裂对旋光效应非常敏感，而对光源的波动性和环境噪声不敏感，因此可以很好的抑制噪声，提高测量精度。光子的自旋分裂可通过量子弱测量放大(表现为通过前、后偏振态后，探测器上光斑的质心位移，即依据光斑的能量分布计算得到的能量重心位置)，进行精确测定，从而高精度的获得待测位置沿光路方向的磁场强度。本发明所公布的基于量子弱测量的弱磁场传感技术对噪声的抑制能力较强，也可以作为一种实时、无标记的高灵敏度磁效应测量技术，在物理、化学、生物及工程技术等领域有较大应用。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 量子 测量 磁场强度 分析 方法 | ||
【主权项】：
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