[发明专利]基于高光谱的含锂辉石伟晶岩识别方法有效
| 申请号： | 201810307415.1 | 申请日： | 2018-04-08 |
| 公开（公告）号： | CN108931546B | 公开（公告）日： | 2020-06-19 |
| 发明（设计）人： | 代晶晶 | 申请（专利权）人： | 中国地质科学院矿产资源研究所 |
| 主分类号： | G01N23/223 | 分类号： | G01N23/223 |
| 代理公司： | 北京正理专利代理有限公司 11257 | 代理人： | 张雪梅 |
| 地址： | 100037 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提出的一种基于高光谱的含锂辉石伟晶岩识别方法，首次开启甲基卡型锂矿的波谱研究，运用地物波谱仪对岩芯样品进行波谱测试，建立甲基卡矿床的典型岩石及矿物的波谱库，总结围岩、含锂辉石伟晶岩、不含锂辉石伟晶岩、锂辉石单晶等的波谱特征，建立锂含量定量反演模型，为含锂辉石伟晶岩找矿研究奠定了基础。包括以下步骤：1)对样品进行波谱测量；2)分析样品所含各类岩石的波谱特征，得出围岩、含锂辉石伟晶岩、不含锂辉石伟晶岩、锂辉石单晶的波谱特征；3)分析围岩、含锂辉石伟晶岩、不含锂辉石伟晶岩、锂辉石单晶的波谱特征，寻找含锂辉石伟晶岩的指示意义波段；4)建立识别含锂辉石伟晶岩的定量反演模型。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 光谱 辉石 伟晶岩 识别 方法 | ||
【主权项】：
1.一种基于高光谱的含锂辉石伟晶岩识别方法，其特征在于，包括以下步骤：1)对样品进行波谱测量；2)分析样品所含各类岩石的波谱特征，得出围岩、含锂辉石伟晶岩、不含锂辉石伟晶岩、锂辉石单晶的波谱特征；3)分析围岩、含锂辉石伟晶岩、不含锂辉石伟晶岩、锂辉石单晶的波谱特征，寻找含锂辉石伟晶岩的指示意义波段；4)建立识别含锂辉石伟晶岩的定量反演模型。
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