[发明专利]一种基于对消技术的微波部件弱无源互调测试系统及方法有效
| 申请号： | 201810282046.5 | 申请日： | 2018-04-02 |
| 公开（公告）号： | CN108650031B | 公开（公告）日： | 2020-10-13 |
| 发明（设计）人： | 谢拥军;武东伟 | 申请（专利权）人： | 北京航空航天大学 |
| 主分类号： | H04B17/00 | 分类号： | H04B17/00 |
| 代理公司： | 北京慕达星云知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 11465 | 代理人： | 崔自京 |
| 地址： | 100191*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于对消技术的无源互调测试系统及测试方法，本方法是在常规PIM测试方法的基础上在测试系统中加入对消电路，实现弱无源互调测试功能。本发明能够用来评估微波部件由于结构设计和工艺引起的非线性强弱，为微波产品的PIM产生提供检测方法。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 对消 技术 微波 部件 无源 测试 系统 方法 | ||
【主权项】：
1.一种基于对消技术的微波部件弱无源互调测试系统，包含无源互调测试电路与显示部分，其特征在于，还包括载波对消电路部分，其中，所述载波对消电路部分用于对信号源杂散中的待测互调频率成分消除，所述无源互调测试电路与显示部分用于对所述载波对消电路部分输出的信号进行测试和显示。
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