[发明专利]一种基于对消技术的微波部件弱无源互调测试系统及方法

权利要求书

1.一种基于对消技术的微波部件弱无源互调测试系统，包含无源互调测试电路与显示部分，其特征在于，还包括载波对消电路部分，其中，所述载波对消电路部分用于对信号源杂散中的待测互调频率成分消除，所述无源互调测试电路与显示部分用于对所述载波对消电路部分输出的信号进行测试和显示；

所述载波对消电路部分包括第一大功率频综信号源、第二大功率频综信号源、对消模块、第一定向耦合器、第二定向耦合器、第一功率计和第二功率计；所述第一大功率频综信号源和所述第二大功率频综信号源经由对消模块分别连接第一定向耦合器和第二定向耦合器；所述第一定向耦合器和所述第二定向耦合器的输出端均与所述无源互调测试电路与显示部分连接；所述第一功率计和第二功率计分别与第一定向耦合器和第二定向耦合器连接；

所述对消模块包括第一功分器、第二功分器、第一延时线、第二延时线、低互调电缆、第一合路器、第二合路器；所述第一功分器的输入端与所述第一大功率频综信号源连接，所述第一功分器的输出端分两路，第一路通过所述低互调电缆连接所述第一合路器，第二路通过所述第一延时线连接所述第一合路器，所述第一合路器的输出端连接所述第一定向耦合器的输入端；所述第二功分器的输入端与所述第二大功率频综信号源连接，所述第二功分器的输出端分两路，第一路通过所述低互调电缆连接所述第二合路器，第二路通过所述第二延时线连接所述第二合路器，所述第二合路器的输出端连接所述第二定向耦合器的输入端；

所述第一大功率频综信号源和所述第二大功率频综信号源输出的信号通过所述对消模块进行对消；

且所述第一延时线和所述第二延时线的长度满足：所述第一延时线的长度与互调频点波长的比值大于等于3.5，所述第二延时线的长度与互调频点波长的比值大于等于3.5，所述对消模块的载波功率损失小于-3dB。

2.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述无源互调测试电路与显示部分为反射式。

3.根据权利要求2所述的系统，其特征在于，所述无源互调测试电路与显示部分包括频率合成器、双工器、被测件、低互调负载和频谱仪；所述频率合成器的两个输入端分别与所述第一定向耦合器的输出端和所述第二定向耦合器输出端连接，所述频率合成器的输出端通过所述双工器与所述被测件连接，所述被测件的另一端连接所述低互调负载，所述双工器的第三端连接所述频谱仪。

4.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述无源互调测试电路与显示部分为辐射式。

5.根据权利要求4所述的系统，其特征在于，所述无源互调测试电路与显示部分包括频率合成器、双工器、被测件、屏蔽吸波室、接收探头、低PIM带通滤波器、低噪放大器和频谱仪；所述频率合成器的两个输入端分别与所述第一定向耦合器的输出端和所述第二定向耦合器输出端连接，所述频率合成器的输出端通过所述双工器与所述被测件连接，所述接收探头设置在所述被测件的另一端，所述被测件和所述接收探头设置在所述屏蔽吸波室内，所述接收探头依次与所述低PIM带通滤波器、所述低噪放大器和所述频谱仪连接。

6.一种基于对消技术的微波部件弱无源互调测试方法，其特征在于，在测试前通过引入对消模块对信号源杂散中的待测互调频率成分消除，从而实现弱无源互调测试；所述对消模块包括第一功分器、第二功分器、第一延时线、第二延时线、低互调电缆、第一合路器、第二合路器；所述第一功分器的输入端与第一大功率频综信号源连接，所述第一功分器的输出端分两路，第一路通过所述低互调电缆连接所述第一合路器，第二路通过所述第一延时线连接所述第一合路器；所述第二功分器的输入端与第二大功率频综信号源连接，所述第二功分器的输出端分两路，第一路通过所述低互调电缆连接所述第二合路器，第二路通过所述第二延时线连接所述第二合路器，具体包括以下步骤：

S1：将第一大功率频综信号源和第二大功率频综信号源输出的信号通过所述对消模块进行对消；

S2：调整所述第一延时线和所述第二延时线的长度，满足：所述第一延时线的长度与互调频点波长的比值大于等于3.5，所述第二延时线的长度与互调频点波长的比值大于等于3.5，所述对消模块的载波功率损失小于-3dB。

7.根据权利要求6所述的测试方法，其特征在于，还包括以下步骤：

S3：对所述对消模块输出的信号进行反射式弱PIM测试或辐射式弱PIM测试。