[发明专利]基于X-Ray成像技术异物检测系统、方法以及装置有效
| 申请号： | 201810271938.5 | 申请日： | 2018-03-29 |
| 公开（公告）号： | CN108535287B | 公开（公告）日： | 2020-09-15 |
| 发明（设计）人： | 洪坚;王国平 | 申请（专利权）人： | 多科智能装备（常熟）有限公司 |
| 主分类号： | G01N23/04 | 分类号： | G01N23/04;G01V5/00;G06K9/34;G06K9/00;G06K9/46;G06T7/136;G06T7/11 |
| 代理公司： | 上海汉声知识产权代理有限公司 31236 | 代理人： | 庄文莉 |
| 地址： | 215500 江*** | 国省代码： | 江苏;32 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明提供了一种基于X‑Ray成像技术异物检测系统，包含检测控制模块(5)，所述检测控制模块(5)包含以下模块：数据采集模块：根据X射线成像系统(3)获取的成像数据生成点体灰度阵列D；数据处理模块：对点体灰度阵列D进行处理获得边界区域阵列A；异物确认模块：根据边界区域阵列A生成异物识别信息。相应地，本发明还提供了一种基于X‑Ray成像技术异物检测方法与装置。本发明采用的X‑Ray检查系统由软件自动判别，既实现了人工不可能做到的高速检测判别，同时又可以达到人眼无法识别的判别精度和准确性。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 ray 成像 技术 异物 检测 系统 方法 以及 装置 | ||
【主权项】：
1.一种基于X‑Ray成像技术异物检测方法，其特征在于，包含检测控制步骤，所述检测控制步骤包含以下步骤：数据采集步骤：根据X射线成像系统(3)获取的成像数据生成点体灰度阵列D；数据处理步骤：对点体灰度阵列D进行处理获得边界区域阵列A；异物确认步骤：根据边界区域阵列A生成异物识别信息。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于多科智能装备（常熟）有限公司，未经多科智能装备（常熟）有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201810271938.5/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：X射线检查装置
- 下一篇：一种基于X射线的食品检测系统
