[发明专利]一种自混合干涉的正交检波振动测量装置及方法有效

专利信息
申请号: 201810266508.4 申请日: 2018-03-28
公开(公告)号: CN108225543B 公开(公告)日: 2019-06-25
发明(设计)人: 武俊峰;舒风风;李彦呈;吴一辉 申请(专利权)人: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
主分类号: G01H9/00 分类号: G01H9/00
代理公司: 深圳市科进知识产权代理事务所(普通合伙) 44316 代理人: 赵勍毅
地址: 130033 吉林省长春*** 国省代码: 吉林;22
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摘要: 发明公开了一种自混合干涉的正交检波振动测量装置及方法,可调恒流源控制单模半导体激光二极管输出入射激光,入射激光一部分被反射到第二光电二极管上,将光信号转化为电流信号被第二光电检测模块检测后反馈给采集模块;入射激光的另一部分照射到被测物表面并按原路反射回到第一光电二极管上,将光信号转化为电流信号被第一光电检测模块检测后反馈给采集模块。与传统的自混合测量装置相比,本申请的自混合干涉的正交检波振动测量装置能获得正交的自混合信号,并完成振动信号的反正切解调,简化了系统的信号的解调难度,具有更高的位移分辨率,提高了系统的振动信号的解调精度,并能实现实时、在线测量。
搜索关键词: 自混合 振动测量装置 正交检波 解调 光电检测模块 光电二极管 光信号转化 采集模块 电流信号 入射激光 振动信号 干涉 被测物表面 单模半导体 激光二极管 可调恒流源 测量装置 原路反射 在线测量 反馈 传统的 反正切 分辨率 正交的 检测 反射 照射 激光 申请
【主权项】:
1.一种自混合干涉的正交检波振动测量装置,其特征在于,包括单模半导体激光二极管、可调恒流源、第一聚焦镜、分光镜、第一光电二极管、第一光电检测模块、第二聚焦镜、第二光电二极管、第二光电检测模块、采集模块;所述可调恒流源控制所述单模半导体激光二极管输出入射激光,沿着所述入射激光的照射方向依次放置所述第一聚焦镜、所述分光镜,所述分光镜的轴线与所述入射激光成一定角度,所述入射激光经过所述分光镜后被反射和投射形成反射光和透射光,所述反射光反射到所述第二聚焦镜上,在所述第二聚焦镜的焦平面上放置所述第二光电二极管;所述入射激光经过所述分光镜透射后照射到被测物表面并按原路反回,经所述分光镜及所述第一聚焦镜后进入所述第一光电二极管,所述第一聚焦镜与所述第二聚焦镜的光轴成一定角度;所述第一光电检测模块与所述第一光电二极管电连接,用于检测所述第一光电二极管产生的电流信号;所述第二光电检测模块与所述第二光电二极管电连接,用于检测所述第二光电二极管产生的电流信号;所述采集模块与所述第一光电检测模块、所述第二光电检测模块电连接,用于采集所述第一光电检测模块、所述第二光电检测模块检测到的电流信号;所述第一光电二极管、所述第二光电二极管的负极接地,所述单模半导体激光二极管的正极接地。
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