[发明专利]基于太赫兹波检测大米的方法及系统有效
| 申请号： | 201810231619.1 | 申请日： | 2018-03-20 |
| 公开（公告）号： | CN108444940B | 公开（公告）日： | 2020-10-02 |
| 发明（设计）人： | 李灿;沈耀春;丁庆;李辰 | 申请（专利权）人： | 深圳市太赫兹科技创新研究院有限公司;深圳市太赫兹科技创新研究院 |
| 主分类号： | G01N21/3586 | 分类号： | G01N21/3586;G01N21/3563;G01N21/55 |
| 代理公司： | 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人： | 石佩 |
| 地址： | 518102 广东省深圳市宝安*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种基于太赫兹波检测大米的方法。方法包括：以太赫兹频段的电磁波作为入射波扫描待测样品；采集待测样品所反射的太赫兹频段的反射波，并获取反射波的反射光谱；根据反射光谱对待测样品进行垩白区域检测。本发明还涉及一种基于太赫兹波检测大米的系统。上述基于太赫兹波检测大米的方法及系统，由垩白区域和非垩白区域反射的反射波的光强也不同。因此根据检测各个位置的反射波得到的反射光谱，便可分析待测样品的内部结构，由此判断待测样品内部是否存在垩白区域，太赫兹频段的电磁波穿透性强，分辨率高，操作简单，对待测样品无破坏性，检测大米垩白结构的效果较好。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 赫兹 检测 大米 方法 系统 | ||
【主权项】：
1.一种基于太赫兹波检测大米的方法，其特征在于，所述方法包括：以太赫兹频段的电磁波作为入射波扫描待测样品；采集所述待测样品所反射的太赫兹频段的反射波，并获取所述反射波的反射光谱；根据所述反射光谱对所述待测样品进行垩白区域检测。
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