[发明专利]基于太赫兹波检测大米的方法及系统

说明书

本发明涉及一种基于太赫兹波检测大米的方法。方法包括：以太赫兹频段的电磁波作为入射波扫描待测样品；采集待测样品所反射的太赫兹频段的反射波，并获取反射波的反射光谱；根据反射光谱对待测样品进行垩白区域检测。本发明还涉及一种基于太赫兹波检测大米的系统。上述基于太赫兹波检测大米的方法及系统，由垩白区域和非垩白区域反射的反射波的光强也不同。因此根据检测各个位置的反射波得到的反射光谱，便可分析待测样品的内部结构，由此判断待测样品内部是否存在垩白区域，太赫兹频段的电磁波穿透性强，分辨率高，操作简单，对待测样品无破坏性，检测大米垩白结构的效果较好。

技术领域

本发明涉及农产品质量检测领域，特别涉及一种基于太赫兹波检测大米的方法及系统。

背景技术

垩白是衡量稻米品质的重要性状之一。大米垩白区域乃是胚乳淀粉及蛋白质颗粒积累不够密实所致。大米的垩白部分蛋白质含量较低，淀粉含量较高，垩白度越高，大米的质量越差，营养价值也越差，加工时容易破碎，直接影响稻米的外观品质和商品流通。

大米表面的垩白区域肉眼易辨别，但大米有一定厚度，对于其内部的微小的垩白结构区域，肉眼却难以观察。光学显微镜和扫描电子显微镜只能直接观察样品表面的结构，对于样品内部结构无法穿透分析。其它的检测方法，比如利用透射电子显微镜或者X射线，虽然能够透过较厚的样品进行检测，但对被测物质的结构成分有破坏性。因此，目前的大米的垩白检测方法效果不好。

发明内容

基于此，有必要针对大米的垩白检测方法效果不好的问题，提供一种基于太赫兹波检测大米的方法及系统。

一种基于太赫兹波检测大米的方法，所述方法包括：

以太赫兹频段的电磁波作为入射波扫描待测样品；

采集所述待测样品所反射的太赫兹频段的反射波，并获取所述反射波的反射光谱；

根据所述反射光谱对所述待测样品进行垩白区域检测。

在其中一个实施例中，所述检测由所述待测样品反射的太赫兹频段的反射波，得到由所述待测样品反射的反射光谱的步骤为：

在不同时刻检测由所述待测样品反射的反射波，得到与所述入射波的入射点在所述待测样品表面处的切平面平行的不同截面的反射光谱；其中，任一时刻的反射光谱对应于由相应的截面反射的反射波的光谱；

所述根据所述反射光谱对所述待测样品进行垩白区域检测的步骤包括：

对于任一截面的反射光谱，根据该反射光谱判断相应的截面是否存在垩白区域；

对于待测样品的各个截面，如果有截面存在垩白区域，则待测样品存在垩白区域。

在其中一个实施例中，所述对于任一截面的反射光谱，根据该反射光谱判断相应的截面是否存在垩白区域的步骤为：

对于任一截面的反射光谱，反射光强落入预设范围内的区域为垩白区域。

在其中一个实施例中，所述对于任一截面的反射光谱，根据该反射光谱判断相应的截面是否存在垩白区域的步骤包括：

对于任一截面的反射光谱，根据该反射光谱生成相应截面的结构图像。

在其中一个实施例中，所述对于任一截面的反射光谱，根据该反射光谱判断相应的截面是否存在垩白区域的步骤之后包括：

如果相应的截面存在垩白区域，则根据该截面的结构图像计算垩白区域的垩白面积；

计算垩白面积与该截面的面积的比值，该比值为该截面的垩白率。

在其中一个实施例中，所述计算垩白面积与该截面的面积的比值，该比值为该截面的垩白率的步骤之后还包括：