[发明专利]一种基于射频光子学的光子外差式信息相干成像感测系统在审
| 申请号： | 201810212039.8 | 申请日： | 2018-03-15 |
| 公开（公告）号： | CN108444914A | 公开（公告）日： | 2018-08-24 |
| 发明（设计）人： | 牟宁;高万荣 | 申请（专利权）人： | 南京理工大学 |
| 主分类号： | G01N21/01 | 分类号： | G01N21/01;G01N21/27;G01J3/45 |
| 代理公司： | 南京理工大学专利中心 32203 | 代理人： | 马鲁晋 |
| 地址： | 210094 江*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明提出了一种基于射频光子学的光子外差式信息相干成像感测系统，光谱源产生的光源经透反镜分成两束光，其中一束反射光入射至纯净光谱产生器后输出纯净光谱，另一束透射光射向测试样品并反射回波，测试样品反射的回波与纯净光谱产生器输出的纯净光谱相互叠加形成干涉信号，干涉信号经光电探测器形成一个中频信号，中频信号经带通滤波器滤波后在成像处理系统成像。本发明基于射频光子学的光子外差相干系统，该系统具有良好的滤波性能,被测试样品的反射信号即使很微弱，仍能检测出来。 | ||
| 搜索关键词： | 光谱 测试样品 光子学 光子 射频 干涉信号 感测系统 相干成像 中频信号 产生器 外差式 成像处理系统 光电探测器 输出 反射回波 反射信号 滤波性能 通滤波器 相干系统 反射光 透反镜 透射光 回波 经带 滤波 入射 外差 反射 成像 光源 叠加 检测 | ||
【主权项】：
1.一种基于射频光子学的光子外差式信息相干成像感测系统，其特征在于，包括光谱源(1)、透反镜(2)、纯净光谱产生器、第一光电探测器(4)、带通滤波器(14)以及成像处理系统(15)，其中：所述光谱源(1)产生的光源经透反镜(2)分成两束光，其中一束反射光入射至纯净光谱产生器后输出纯净光谱，另一束透射光射向测试样品(5)并反射回波，所述测试样品(5)反射的回波与纯净光谱产生器输出的纯净光谱通过透反射镜后，在第一光电探测器(4)上相互叠加形成干涉并输出一个中频信号，所述中频信号经带通滤波器(14)滤波后在成像处理系统(15)成像。
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