[发明专利]一种GIS设备内部过热缺陷的红外检测方法有效
| 申请号： | 201810188277.X | 申请日： | 2018-03-07 |
| 公开（公告）号： | CN108519158B | 公开（公告）日： | 2019-09-03 |
| 发明（设计）人： | 彭在兴;王颂;刘凯;金虎;易林 | 申请（专利权）人： | 南方电网科学研究院有限责任公司;中国南方电网有限责任公司 |
| 主分类号： | G01J5/00 | 分类号： | G01J5/00;G01J5/10;G01J5/26 |
| 代理公司： | 广州三环专利商标代理有限公司 44202 | 代理人： | 梁顺宜;郝传鑫 |
| 地址： | 510670 广东*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种GIS设备内部过热缺陷的红外检测方法，包括：通过红外检测设备实时采集GIS设备的壳体的温度；在预设时间通过红外检测设备在壳体上寻找温度山峰，从而得到壳体的异常温差；根据预先求得的壳体与GIS设备的导体间的温升差比值、导体的正常温升以及壳体的异常温差得到导体的异常温升；其中，导体的正常温升为所述GIS设备正常运行状态下的导体的温度与环境温度的差值；根据导体的异常温升对所述GIS设备进行状态评估。采用本发明的实施例，能够准确测量GIS设备是否存在内部过热缺陷，同时评估内部过热缺陷的严重程度。 | ||
| 搜索关键词： | 导体 壳体 过热缺陷 温升 红外检测设备 红外检测 温差 正常运行状态 实时采集 状态评估 准确测量 预设 评估 | ||
【主权项】：
1.一种GIS设备内部过热缺陷的红外检测方法，其特征在于，包括：通过红外检测设备实时采集GIS设备的壳体的温度；在预设时间内通过红外检测设备在所述壳体上寻找温度山峰，从而得到所述壳体的异常温差；根据预先求得的所述壳体与所述GIS设备的导体间的温升差比值、所述导体的正常温升以及所述壳体的异常温差得到所述导体的异常温升；其中，所述导体的正常温升为所述GIS设备正常运行状态下的所述导体的温度与环境温度的差值；根据所述导体的异常温升对所述GIS设备进行状态评估；其中，所述温升差比值的求解过程具体包括：通过红外检测设备实时采集GIS模拟设备中模拟壳体的温度，从而得到所述模拟壳体的温升；其中，所述GIS模拟设备用于模拟所述GIS设备的内部过热缺陷；通过热敏传感器实时采集所述GIS模拟设备中模拟导体的温度，从而得到所述模拟导体的温升；根据所述模拟壳体的温升与所述模拟导体的温升得到所述模拟壳体与所述模拟导体之间的温升差比值；满足以下公式：![]()
其中，S为所述温升差比值，Ta1为故障点的模拟导体温升，Ta2为所述模拟导体正常运行情况下的温升，Tb1为故障点的模拟壳体温升，Tb2为所述模拟壳体正常运行情况下的温升。
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