[发明专利]微粒探测器，系统与方法有效
| 申请号： | 201810154230.1 | 申请日： | 2005-11-14 |
| 公开（公告）号： | CN108492515B | 公开（公告）日： | 2020-10-23 |
| 发明（设计）人： | 罗恩·诺克司;K·库珀;凯末尔·阿贾伊 | 申请（专利权）人： | 爱克斯崔里斯科技有限公司 |
| 主分类号： | G08B17/107 | 分类号： | G08B17/107;G01S17/04;G01S17/87;G01N33/00;G01S7/487;G01N21/49 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 蒋骏;陈岚 |
| 地址： | 巴哈马*** | 国省代码： | 暂无信息 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明涉及微粒探测器，系统与方法。本发明提供，联合图像捕捉设备(14)，例如一个或者更多视频摄像机和/或光学元件使用一种或者多种发射线束(16)，例如激光束，来探测位于开放空间(12)的微粒(30)，例如，烟雾微粒。 | ||
| 搜索关键词： | 微粒 探测器 系统 方法 | ||
【主权项】：
1.一种探测微粒的方法，包括：向被监测区域发射第一射线束；探测第一射线束的反向散射线；以及通过记录所发射的第一射线束的目标入射束斑的强度，确定路径损耗测定；其中：探测反向散射线包括用第一图像捕获装置探测所述区域的图像变化，所述图像变化标示微粒存在，并且其中所述图像变化对应于反向散射线；记录目标入射束斑的强度包括记录，在第一图像捕获装置捕获的图像中，所发射的第一射线束的目标入射束斑的强度；确定路径损耗测定还包括比较所述记录的强度与前一时间记录的强度；以及其中所述方法还包括基于所述路径损耗测定估计微粒密度。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于爱克斯崔里斯科技有限公司，未经爱克斯崔里斯科技有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201810154230.1/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：提供位置信息的烟感探测器及运作方法
- 下一篇：一种用于楼宇的火灾监控系统
