[发明专利]微粒探测器，系统与方法

权利要求书

1.一种探测微粒的方法，包括：

向被监测区域发射第一射线束；

探测第一射线束的反向散射线；以及

通过记录所发射的第一射线束的目标入射束斑的强度，确定路径损耗测定；

其中：

探测反向散射线包括用第一图像捕获装置探测所述区域的图像变化，所述图像变化标示微粒存在，并且其中所述图像变化对应于反向散射线；

记录目标入射束斑的强度包括记录，在第一图像捕获装置捕获的图像中，所发射的第一射线束的目标入射束斑的强度；

确定路径损耗测定还包括比较所述记录的强度与前一时间记录的强度；以及

其中所述方法还包括基于所述路径损耗测定估计微粒密度。

2.根据权利要求1所述的方法，所述第一射线束为激光束以及第一图像捕获设备为摄像机，以及所述方法包括：提供激光目标，激光束在该激光目标上形成目标入射束斑。

3.根据权利要求2所述的方法，在所捕获的图像中，所述目标易于利用图像处理技术识别。

4.根据权利要求1所述的方法，所述前一时间为安装时间。

5.根据权利要求1所述的方法，所述方法包括协同使用路径损耗测定与散射信息，以评估平均微粒密度。

6.根据权利要求1所述的方法，所述方法包括协同使用路径损耗测定与散射信息来区别微粒类型。

7.根据权利要求6所述的方法，所述微粒类型包括烟雾微粒或干扰微粒。

8.根据权利要求6所述的方法，区别微粒类型包括计算路径损耗与散射的比率，以及将该比率与已知材料的比率比较。

9.根据权利要求6所述的方法，在所述束的局部上或整个束上执行所述区别。

10.根据权利要求9所述的方法，还包括以下步骤：

提供第二发射束，其源接近第二图像捕获装置并且与其成一角度，使得所述第二束穿越所述第二图像捕获装置的视场；

探测被监测区域的反向散射光。

11.根据权利要求10所述的方法，所述被探测的反向散射光具有以下散射角中的任意一个散射角：

相对所述发射束方向为大约180°；或

相对所述发射束方向为大于90°且小于180°。

12.根据权利要求1所述的方法，还包括，利用第一图像捕获设备探测所述区域的图像变化，所述图像变化标示微粒存在，并且其中所述图像变化对应于前向散射线。

13.根据权利要求12所述的方法，所述方法还包括以下之一或两个：

向被监测区域发射另一射线束，以使得能够使用前向散射线探测微粒；以及

利用第二图像捕获设备探测所述区域的图像变化，所述图像变化标示微粒存在，并且其中所述图像变化对应于前向散射线。

14.根据权利要求1所述的方法，还包括以下一个或者多个步骤：

提供所述捕获图像的边缘探测和修正，以确定束和图像捕获装置对是否有物理移动；

提供图像处理，以确定超出阈值警报水平的捕获图像中目标标记的移动，从而确定束和图像捕获装置对是否有物理移动；以及

向所述被监测区域提供附加发射线源，从而为所述图像捕获装置提供标记，由此确定束和图像捕获装置对是否有物理移动。

15.一种微粒探测系统，包括：

用于向被监测区域发射第一射线束的设备；

第一图像捕获装置，其用于探测该区域中的图像变化，所述图像的变化标示微粒存在；以及其中用于发射的所述设备和第一图像捕获装置被布置为使得图像中的变化对应于反向散射线；其中所述微粒探测系统被配置为执行权利要求1-14中的任意一项的方法。