[发明专利]一种磁力计的校正方法有效
| 申请号： | 201810151326.2 | 申请日： | 2018-02-14 |
| 公开（公告）号： | CN108333551B | 公开（公告）日： | 2021-02-23 |
| 发明（设计）人： | 张晓娟 | 申请（专利权）人： | 中国科学院电子学研究所 |
| 主分类号： | G01R35/02 | 分类号： | G01R35/02 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 任岩 |
| 地址： | 100190 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种磁力计的校正方法，其包括以下步骤：步骤一、对磁力计阵列进行误差建模；步骤二、计算磁场中的不变量；步骤三、利用磁场中的不变量，寻找相关优化算法确定磁力计阵列的校正系数。本发明的校正方法不仅可以应用于非均匀场中，同样也可以用于均匀场环境下，实时性强，校正效果好。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 磁力计 校正 方法 | ||
【主权项】：
1.一种磁力计的校正方法，其包括以下步骤：步骤一、对磁力计阵列进行误差建模；步骤二、计算磁场中的不变量；步骤三、利用磁场中的不变量，寻找相关优化算法确定磁力计阵列的校正系数。
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