[发明专利]一种用于开关电容阵列芯片的时间修正方法有效
申请号: | 201810135454.8 | 申请日: | 2018-02-09 |
公开(公告)号: | CN108333912B | 公开(公告)日: | 2020-03-31 |
发明(设计)人: | 赵雷;秦家军;刘树彬;安琪;成博宇;陈晗 | 申请(专利权)人: | 中国科学技术大学 |
主分类号: | G04G5/00 | 分类号: | G04G5/00;G06F17/12 |
代理公司: | 北京凯特来知识产权代理有限公司 11260 | 代理人: | 郑立明;郑哲 |
地址: | 230026 安*** | 国省代码: | 安徽;34 |
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摘要: | 本发明公开了一种用于开关电容阵列芯片的时间修正方法,该方法的创新点是通过利用采样信号周期与采样间隔之间的关系,构建超定线性方程组并求解,以获得开关电容阵列芯片实际的采样间隔,再利用该采样间隔对时间测量结果进行修正。这种方法具有算法简单高效,计算结果不受芯片模拟带宽以及各采样单元增益偏差限制,精度高等特点;可应用于基于开关电容阵列芯片的高精度时间测量领域,包括高能物理实验中的飞行时间探测系统、中微子测量、医疗成像领域的PET仪器等。 | ||
搜索关键词: | 一种 用于 开关 电容 阵列 芯片 时间 修正 方法 | ||
【主权项】:
1.一种用于开关电容阵列芯片的时间修正方法,其特征在于,包括:将已知频率的正弦波作为输入信号输入至开关电容阵列芯片,计算开关电容阵列芯片采样到正弦波形的过零点时间;利用两个相邻过零点时间的时间间隔与输入信号周期的关系,建立方程;利用足够多的方程建立超定线性方程组,并求解,得到开关电容阵列芯片的实际采样间隔;利用实际采样间隔修正时间测量结果。
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