[发明专利]一种姿态测量捕捉分析系统及其计算方法有效
| 申请号： | 201810123252.1 | 申请日： | 2018-02-07 |
| 公开（公告）号： | CN108378854B | 公开（公告）日： | 2021-10-29 |
| 发明（设计）人： | 不公告发明人 | 申请（专利权）人： | 北京摩高科技有限公司 |
| 主分类号： | A61B5/11 | 分类号： | A61B5/11;A61B5/00 |
| 代理公司： | 北京知联天下知识产权代理事务所(普通合伙) 11594 | 代理人： | 王冲;吴鑫 |
| 地址： | 100015 北京市朝阳*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种可以将多个存在任意偏差的初始姿态角度矫正到统一坐标系的计算方法，用于姿态测量捕捉分析系统，该姿态测量捕捉分析系统具有第一坐标系，该姿态测量捕捉分析系统包括预定传感器，所述预定传感器具有第二坐标系，该计算方法包括：调整所述预定传感器至第一状态，并在所述第一状态获取所述预定传感器的所述第二坐标系中的第一数据；调整所述预定传感器至第二状态，并在所述第二状态获取所述预定传感器的所述第二坐标系中的第二数据；调整所述预定传感器至所述第一状态；调整所述预定传感器至第三状态，并在所述第三状态获取所述预定传感器的所述第二坐标系中的第三数据；以及计算所述预定传感器相对所述第一坐标系的校准四元数。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 姿态 测量 捕捉 分析 系统 及其 计算方法 | ||
【主权项】：
1.一种计算方法，用于姿态测量捕捉分析系统，所述姿态测量捕捉分析系统具有第一坐标系，所述姿态测量捕捉分析系统包括预定传感器，所述预定传感器具有第二坐标系，所述计算方法包括：调整所述预定传感器至第一状态，并在所述第一状态获取所述预定传感器的所述第二坐标系中的第一数据；调整所述预定传感器至第二状态，并在所述第二状态获取所述预定传感器的所述第二坐标系中的第二数据；调整所述预定传感器至所述第一状态；调整所述预定传感器至第三状态，并在所述第三状态获取所述预定传感器的所述第二坐标系中的第三数据；以及计算所述预定传感器相对所述第一坐标系的校准四元数。
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