[发明专利]天线测试装置有效
| 申请号： | 201810102339.0 | 申请日： | 2018-02-01 |
| 公开（公告）号： | CN108459217B | 公开（公告）日： | 2021-01-15 |
| 发明（设计）人： | 金志虎;汪澜;王宏;黄亮 | 申请（专利权）人： | 深圳市共进电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00;G01R29/10 |
| 代理公司： | 深圳中一联合知识产权代理有限公司 44414 | 代理人： | 李艳丽 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市南山区南海大道1019号南山医疗器械产业园B11*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种天线测试装置，用于测试呈棒状、条状或鞭状的被测天线的无线性能，所述天线测试装置包括大致呈管状设置并通过沿一方向卷绕形成且套接于所述被测天线的耦合天线，所述耦合天线的卷绕方向上的两端不闭合。本发明在使用时可套在条状、棒状或鞭状天线等被测天线上，将所述耦合天线与射频线芯线相连，能够在狭小的周向密闭空间内对被测天线发出的径向磁场进行约束式的全方位耦合，相比于传统的一维测试时不大于180度的耦合范围，接受能量大，这种耦合方式把磁场耦合感应出来的感生电动势和电场耦合的感生电动势叠加到一起，导入射频线测试信号被有效增强。 | ||
| 搜索关键词： | 天线 测试 装置 | ||
【主权项】：
1.一种天线测试装置，用于测试呈棒状、条状或鞭状的被测天线的无线性能，其特征在于，所述天线测试装置包括大致呈管状设置并通过沿一方向卷绕形成且套接于所述被测天线的耦合天线，所述耦合天线的卷绕方向上的两端不闭合。
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