[发明专利]天线测试装置

说明书

本发明提供了一种天线测试装置，用于测试呈棒状、条状或鞭状的被测天线的无线性能，所述天线测试装置包括大致呈管状设置并通过沿一方向卷绕形成且套接于所述被测天线的耦合天线，所述耦合天线的卷绕方向上的两端不闭合。本发明在使用时可套在条状、棒状或鞭状天线等被测天线上，将所述耦合天线与射频线芯线相连，能够在狭小的周向密闭空间内对被测天线发出的径向磁场进行约束式的全方位耦合，相比于传统的一维测试时不大于180度的耦合范围，接受能量大，这种耦合方式把磁场耦合感应出来的感生电动势和电场耦合的感生电动势叠加到一起，导入射频线测试信号被有效增强。

技术领域

本发明属于电磁兼容测试技术领域，尤其涉及一种对条状、棒状或鞭状天线进行无线性能测试的天线测试装置。

背景技术

天线耦合度测试是测量多天线系统电磁兼容设计和评估的重要环节。对于小型天线系统，多为探针式触点测量，此种测量方式为一维测试，耦合度低。

发明内容

本发明的目的在于提供一种天线测试装置，旨在解决现有技术中耦合度低的技术问题。

本发明是这样实现的，一种天线测试装置，用于测试呈棒状、条状或鞭状的被测天线的无线性能，所述天线测试装置包括大致呈管状设置并通过沿一方向卷绕形成且套接于所述被测天线的耦合天线，所述耦合天线的卷绕方向上的两端不闭合。

进一步地，所述天线测试装置还包括设于所述耦合天线的外侧的屏蔽层以及设于所述耦合天线和所述屏蔽层之间的第一绝缘层。

进一步地，所述天线测试装置还包括设于所述耦合天线内侧且用于防止所述耦合天线受到磨损且由绝缘材料制成的第二绝缘层和/或设于所述屏蔽层外侧并用于防止所述屏蔽层损伤且由绝缘材料制成的外保护层。

进一步地，所述耦合天线在卷绕之前的平铺状态为展开状态；

所述耦合天线在所述展开状态呈矩形，所述耦合天线在所述展开状态呈矩形时其卷绕方向为任一直角边的延伸方向；

或，所述耦合天线在所述展开状态呈其中一边围成锯齿状的矩形，所述耦合天线在所述展开状态呈矩形时其卷绕方向为由锯齿状一边的对边朝向具有所述锯齿状的一边的方向。

进一步地，所述耦合天线在卷绕之前的平铺状态为展开状态，所述耦合天线包括一第一主线以及与所述第一主线连接的分线组，所述分线组包括多条均在所述展开状态时与所述第一主线垂直的分线，各所述分线平行且间隔设置。

进一步地，各所述分线等长且等间隔，所述第一主线连接于各所述分线的同一端或所述分线的其他相同位置，所述耦合天线的卷绕方向为所述第一主线的延伸方向。

进一步地，各所述分线分为具有第一长度的分线和具有第二长度的分线，所述第一长度与所述第二长度不等长，具有第一长度的分线和具有第二长度的分线等间隔交错排列，所述第一主线连接于各所述分线的中点，所述耦合天线的卷绕方向为所述分线的延伸方向。

进一步地，所述第一主线具有相对设置的左侧和右侧，所述左侧和所述右侧均连接有所述分线，连接于所述左侧的所述分线与连接于所述右侧的所述分线沿所述第一主线的延伸方向交错排列，所述耦合天线的卷绕方向为所述分线的延伸方向。

进一步地，所述耦合天线在卷绕之前的平铺状态为展开状态；所述耦合天线包括一第二主线以及连接于所述第二主线并分别设于所述第二主线两侧且沿所述第二主线延伸方向错位设置的两个螺旋线，所述耦合天线的卷绕方向为垂直于所述第二主线的延伸线的方向。

进一步地，所述耦合天线在卷绕之前的平铺状态为展开状态；所述耦合天线包括一第三主线以及连接于所述第三主线并设于所述第三主线同一侧且间隔设置的两个回转线，所述回转线由多个一边相互重合的矩形线环套而成，所述耦合天线的卷绕方向为垂直于所述第三主线的延伸线的方向。