[发明专利]一种粗糙度仪测量速度自动校正方法及粗糙度仪

摘要

本申请实施方式公开了一种粗糙度仪测量速度自动校正方法及粗糙度仪，其中，所述粗糙度仪包括：电机、驱动电路、处理器和编码器；其中，驱动电路在处理器产生的驱动信号的作用下产生驱动电压；电机在驱动电压的作用下进行转动；编码器检测电机的转速情况，将检测结果反馈至处理器；处理器对驱动电路产生驱动信号，并根据反馈的检测结果对驱动信号进行调整，控制电机的转速。本技术方案采用闭环电机控制系统，在闭环控制系统中，编码器对电机转速情况进行检测，将检测结果反馈至处理器，处理器根据检测情况通过脉宽调制PWM控制驱动电路输入至电机的驱动电压，在测量过程中实现电机转速的调整，提高了粗糙度仪的测量精度。 1

主权项

1.一种粗糙度仪，其特征在于，包括：电机、驱动电路、处理器和编码器；其中，

所述驱动电路，用于在所述处理器产生的驱动信号的作用下产生驱动电压；

所述电机，用于在所述驱动电压的作用下进行转动；

所述编码器，用于检测所述电机的转速情况，将检测结果反馈至所述处理器；

所述处理器，用于对所述驱动电路产生驱动信号，并根据反馈的检测结果对所述驱动信号进行调整，控制所述电机的转速。

2.如权利要求1所述的粗糙度仪，其特征在于，所述驱动电路采用开关驱动方式。

3.如权利要求1所述的粗糙度仪，其特征在于，所述编码器为光电编码器。

4.如权利要求1所述的粗糙度仪，其特征在于，所述处理器采用具有PWM输出的芯片。

5.一种粗糙度仪测量速度自动校正方法，其特征在于，在粗糙度仪内增设编码器，在粗糙度仪器中的驱动电路、电机、编码器以及处理器的作用下，实现粗糙度仪测量速度自动校正；所述方法包括：

所述驱动电路在所述处理器产生的驱动信号的作用下产生驱动电压；

所述电机在所述驱动电压的作用下进行转动；

所述编码器检测所述电机的转速情况，将检测结果反馈至所述处理器；

所述处理器对所述驱动电路产生驱动信号，并根据反馈的检测结果对所述驱动信号进行调整，控制所述电机的转速。