[发明专利]一种粗糙度仪测量速度自动校正方法及粗糙度仪

说明书

本申请实施方式公开了一种粗糙度仪测量速度自动校正方法及粗糙度仪，其中，所述粗糙度仪包括：电机、驱动电路、处理器和编码器；其中，驱动电路在处理器产生的驱动信号的作用下产生驱动电压；电机在驱动电压的作用下进行转动；编码器检测电机的转速情况，将检测结果反馈至处理器；处理器对驱动电路产生驱动信号，并根据反馈的检测结果对驱动信号进行调整，控制电机的转速。本技术方案采用闭环电机控制系统，在闭环控制系统中，编码器对电机转速情况进行检测，将检测结果反馈至处理器，处理器根据检测情况通过脉宽调制PWM控制驱动电路输入至电机的驱动电压，在测量过程中实现电机转速的调整，提高了粗糙度仪的测量精度。

技术领域

本申请涉及物体表面粗糙度检测技术领域，特别涉及一种粗糙度仪测量速度自动校正方法及粗糙度仪。

背景技术

在实际中，粗糙度仪测量物体表面时，将传感器放在物体被测表面上，由驱动器带动传感器沿被测表面做匀速直线滑行，物体被测表面轮廓起伏引起传感器输出信号变化，该变化信号经过调制放大处理后产生与被测表面轮廓成一定比例的模拟信号，该信号经过电平转换之后被送到数据采集系统转换成一系列数据，处理器对这些数据进行数字滤波和参数计算，测量结果在仪器显示屏上输出。

如图1所示，为传统地粗糙度仪框图。粗糙度仪测量时，驱动器的速度取决于直流电机的转速。以往直流电机的转速采用线性放大器驱动，测量过程中直流电机的转速无调速控制系统。

传统的粗糙度仪测量速度校正采用标准样块进行校正，但在实际测量中测量速度受到被测表面、测量环境的温度、湿度的影响，测量速度会产生误差，导致测量参数产生误差。

发明内容

本申请实施方式的目的是提供一种粗糙度仪测量速度自动校正方法及粗糙度仪，解决传统地粗糙度仪测量时无调速控制的问题。

为实现上述目的，本申请实施方式提供一种粗糙度仪，包括：电机、驱动电路、处理器和编码器；其中，

所述驱动电路，用于在所述处理器产生的驱动信号的作用下产生驱动电压；

所述电机，用于在所述驱动电压的作用下进行转动；

所述编码器，用于检测所述电机的转速情况，将检测结果反馈至所述处理器；

所述处理器，用于对所述驱动电路产生驱动信号，并根据反馈的检测结果对所述驱动信号进行调整，控制所述电机的转速。

优选地，所述驱动电路采用开关驱动方式。

优选地，所述编码器为光电编码器。

优选地，所述处理器采用具有PWM输出的芯片。

为实现上述目的，本申请实施方式还提供一种粗糙度仪测量速度自动校正方法，在粗糙度仪内增设编码器，在粗糙度仪器中的驱动电路、电机、编码器以及处理器的作用下，实现粗糙度仪测量速度自动校正；所述方法包括：

所述驱动电路在所述处理器产生的驱动信号的作用下产生驱动电压；

所述电机在所述驱动电压的作用下进行转动；

所述编码器检测所述电机的转速情况，将检测结果反馈至所述处理器；

所述处理器对所述驱动电路产生驱动信号，并根据反馈的检测结果对所述驱动信号进行调整，控制所述电机的转速。

由上可见，与现有技术相比较，本技术方案采用闭环电机控制系统，在闭环控制系统中，编码器对电机转速情况进行检测，将检测结果反馈至处理器，处理器根据检测情况通过脉宽调制PWM控制驱动电路输入至电机的驱动电压，在测量过程中实现电机转速的调整，提高了粗糙度仪的测量精度。

附图说明