[发明专利]一种去除电弧光影响的熔池温度场检测方法在审
| 申请号： | 201810081210.6 | 申请日： | 2018-01-29 |
| 公开（公告）号： | CN108398190A | 公开（公告）日： | 2018-08-14 |
| 发明（设计）人： | 柏连发;陆骏;余荣伟;赵壮;韩静;张毅 | 申请（专利权）人： | 南京理工大学 |
| 主分类号： | G01J5/00 | 分类号： | G01J5/00 |
| 代理公司： | 南京理工大学专利中心 32203 | 代理人： | 陈鹏 |
| 地址： | 210094 江*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种去除电弧光影响的熔池温度场检测方法，首先基于比色测温法设计了一套全视场熔池温度场检测系统，推导熔池温度场的计算公式；然后分析电弧光对熔池温度场检测的影响；最后提出一种去除电弧光影响的熔池温度场检测方法。本发明可以去除电弧光的影响，得到高精度的熔池温度场分布情况，对进一步提高焊接加工质量具有重要意义。 | ||
| 搜索关键词： | 熔池 温度场检测 电弧光 去除 温度场分布 比色测温 焊接加工 计算公式 重要意义 全视场 温度场 推导 分析 | ||
【主权项】：
1.一种去除电弧光影响的熔池温度场检测方法，其特征在于，采用全视场熔池温度场检测系统，该系统包括分光镜、两片滤光片、两个CCD相机和计算机；分光镜用于将入射光线分成两路相同的输出，滤光片用于选择特定波段的光通过，CCD相机用于熔池在选择的特定波段下成像，计算机用于对CCD相机输出的图像进行处理，计算得到熔池的温度场；检测方法包括以下步骤：步骤1，基于比色测温法计算熔池的温度场；步骤2，分析电弧光对熔池温度场检测的影响；步骤3，计算得到去除电弧光影响后的熔池温度场。
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