[发明专利]一种用于陶瓷基片检测的背光运行机构在审
| 申请号： | 201810065027.7 | 申请日： | 2018-01-23 |
| 公开（公告）号： | CN108267448A | 公开（公告）日： | 2018-07-10 |
| 发明（设计）人： | 郑民章;骆志雄 | 申请（专利权）人： | 上海读家电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/84 | 分类号： | G01N21/84;G01N21/01;B07C5/342 |
| 代理公司： | 北京知呱呱知识产权代理有限公司 11577 | 代理人： | 李芙蓉;冯建基 |
| 地址： | 200072 上海市*** | 国省代码： | 上海;31 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明涉及一种用于陶瓷基片检测的背光运行机构，所述用于陶瓷基片检测的背光运行机构包括第一驱动机构和第二驱动机构，所述第一驱动机构与所述第二驱动机构连接，所述第一驱动机构驱动所述第二驱动机构沿方向X运动，所述用于陶瓷基片检测的背光运行机构还包括检测平台，所述检测平台包括壳体、半透明导光板和光源，所述壳体上部设置有透光窗，所述壳体的底部与所述第二驱动机构连接，所述第二驱动机构驱动所述壳体沿方向Y运动，所述光源安装于所述壳体的内部，所述半透明导光板安装于所述壳体的内部或外部并将所述透光窗全部覆盖。本发明的用于陶瓷基片检测的背光运行机构具有检测效率高、次品率低和降低人力成本的优点。 | ||
| 搜索关键词： | 背光 驱动机构 陶瓷基片 运行机构 检测 壳体 第一驱动机构 半透明导光板 透光窗 驱动 光源安装 壳体上部 人力成本 次品率 壳体沿 光源 外部 覆盖 | ||
【主权项】：
1.一种用于陶瓷基片检测的背光运行机构，所述用于陶瓷基片检测的背光运行机构包括第一驱动机构和第二驱动机构，所述第一驱动机构与所述第二驱动机构连接，所述第一驱动机构驱动所述第二驱动机构沿方向X运动，其特征在于，所述用于陶瓷基片检测的背光运行机构还包括检测平台，所述检测平台包括壳体、半透明导光板和光源，所述壳体上部设置有透光窗，所述壳体的底部与所述第二驱动机构连接，所述第二驱动机构驱动所述检测平台沿方向Y运动，所述光源安装于所述壳体的内部，所述半透明导光板安装于所述壳体的内部或外部并将所述透光窗全部覆盖。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海读家电子科技有限公司，未经上海读家电子科技有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201810065027.7/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种弹底弹槽观察装置
- 下一篇：一种二维材料层数快速识别方法及设备
