[发明专利]一种用于陶瓷基片检测的背光运行机构

说明书

本发明涉及一种用于陶瓷基片检测的背光运行机构，所述用于陶瓷基片检测的背光运行机构包括第一驱动机构和第二驱动机构，所述第一驱动机构与所述第二驱动机构连接，所述第一驱动机构驱动所述第二驱动机构沿方向X运动，所述用于陶瓷基片检测的背光运行机构还包括检测平台，所述检测平台包括壳体、半透明导光板和光源，所述壳体上部设置有透光窗，所述壳体的底部与所述第二驱动机构连接，所述第二驱动机构驱动所述壳体沿方向Y运动，所述光源安装于所述壳体的内部，所述半透明导光板安装于所述壳体的内部或外部并将所述透光窗全部覆盖。本发明的用于陶瓷基片检测的背光运行机构具有检测效率高、次品率低和降低人力成本的优点。

技术领域

本发明涉及检测设备技术领域，具体涉及一种用于陶瓷基片检测的背光运行机构。

背景技术

随着微电子技术的进步，微加工工艺的特征线宽已达亚微米级，一块基板上可以集成106～109个以上元件，电路工作的速度越来越快、频率越来越高，这对基板材料的性能提出了更高的要求。作为混合集成电路(HIC)和多芯片组件(MCM)的关键材料之一，陶瓷基板占其总成本的60％左右。陶瓷基片发展的总方向是低介电常数、高热导率和低成本化。

陶瓷基片，又称陶瓷基板，是以电子陶瓷为基底，对膜电路元件及外贴切元件形成一个支撑底座的片状材料。陶瓷基片已经广泛应用于汽车电路、仪器仪表、电源调节器、电位器式扭矩传感器等。作为一个电子部件，它是在三氧化二铝陶瓷基板或FR4等PCB板上，通过厚膜混合集成电路经过丝网印刷、摊平、烧制等生产工艺技术，在基板表面形成良好表面接触电阻、高耐磨寿命的电路图形。陶瓷基板性能的好坏直接决定着整个电器系统的质量和使用寿命。

现有的陶瓷基片检测技术是通过人工使用高倍显微镜或放大镜进行检测，但是人工检测的效率低，而且人眼长期观测高倍显微镜，容易出现视觉疲劳，造成误检，导致不必要的损失。

发明内容

本发明的目的在于提供一种用于陶瓷基片检测的背光运行机构，用以解决现有人工检测存在效率低和次品率高的缺点。

为实现上述目的，本发明提供一种用于陶瓷基片检测的背光运行机构，所述用于陶瓷基片检测的背光运行机构包括第一驱动机构和第二驱动机构，所述第一驱动机构与所述第二驱动机构连接，所述第一驱动机构驱动所述第二驱动机构沿方向X运动，所述用于陶瓷基片检测的背光运行机构还包括检测平台，所述检测平台包括壳体、半透明导光板和光源，所述壳体上部设置有透光窗，所述壳体的底部与所述第二驱动机构连接，所述第二驱动机构驱动所述检测平台沿方向Y运动，所述光源安装于所述壳体的内部，所述半透明导光板安装于所述壳体的内部或外部并将所述透光窗全部覆盖。

优选的，所述第一驱动机构和第二驱动机构分别为第一丝杆步进电机和第二丝杆步进电机，所述第一丝杆步进电机沿方向X设置，所述第二丝杆步进电机沿方向Y设置，所述第一丝杆步进电机的滑块与所述第二丝杆步进电机连接，所述第二丝杆步进电机的滑块与所述壳体的底部连接。

优选的，所述光源为多颗LED灯珠。

优选的，所述半透明导光板的材质为亚克力。

优选的，所述透光窗为矩形透光窗，所述透光窗的面积大于基于陶瓷基片的面积。

本发明具有如下优点：

1、自动化程度高和效率高

本发明的用于陶瓷基片检测的背光运行机构从开始的取料，移动至照相机检测位置，再到按程序设定要求移动至拍摄位置，以及最后移动至放料位置，全部由步进伺服系统完成，无需人工参与，降低人力成本，提高生产效率的同时，还提高了产品的合格率。

2、智能化程度高

本发明的用于陶瓷基片检测的背光运行机构可以通过修改软件和控制程序改变检测位置和检测范围大小，便于检测不同尺寸的基片，满足不同精度的要求。

附图说明