[发明专利]一种电子元件的检测方法、装置和设备有效
| 申请号： | 201810061078.2 | 申请日： | 2018-01-22 |
| 公开（公告）号： | CN108268899B | 公开（公告）日： | 2019-03-01 |
| 发明（设计）人： | 王建民;刘英博;张育萌 | 申请（专利权）人： | 清华大学 |
| 主分类号： | G06K9/62 | 分类号： | G06K9/62;G06N3/04 |
| 代理公司： | 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 | 代理人： | 王莹;李相雨 |
| 地址： | 100084 北京市海*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种电子元件的检测方法、装置和设备，所述方法包括：获取待检测电子元件的元件参数，并根据元件参数的数据分布信息获取待检测电子元件对应的特征向量；在预先基于历史电子元件构建的分类器库中，检索与待检测电子元件的特征向量相似的目标特征向量，并将分类器库中与目标特征向量对应的分类器作为目标分类器；将待检测电子元件的元件参数输入目标分类器中，获取目标分类器输出的检测结果。本发明通过预先构建的分类器库获取对应的分类器进行检测，无需使用待检测电子元件数据进行模型训练，而是直接利用基于历史电子元件数据构建的分类器进行检测，节省了大量的时间成本，直观有效、便于使用。 | ||
| 搜索关键词： | 分类器 检测 元件参数 目标特征向量 特征向量 构建 数据分布信息 分类器输出 获取目标 检测结果 模型训练 目标分类 时间成本 输入目标 数据构建 检索 直观 | ||
【主权项】：
1.一种电子元件的检测方法，其特征在于，包括：获取待检测电子元件的元件参数，并根据元件参数的数据分布信息获取待检测电子元件对应的特征向量；在预先基于历史电子元件构建的分类器库中，检索与待检测电子元件的特征向量相似的目标特征向量，并将分类器库中与目标特征向量对应的分类器作为目标分类器；将待检测电子元件的元件参数输入目标分类器中，获取目标分类器输出的检测结果，其中，目标分类器为通过与目标特征向量对应的历史电子元件的元件参数进行模型训练获得。
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