[发明专利]存储测试仪数据自毁方法有效
| 申请号： | 201810044892.3 | 申请日： | 2018-01-17 |
| 公开（公告）号： | CN108537069B | 公开（公告）日： | 2021-07-06 |
| 发明（设计）人： | 丁永红;尤文斌;王海霞;杨磊;姚悦;马铁华;裴东兴;范锦彪;李新娥;张瑜;路万里;田晓虹;张超颖;郭晶;申飞 | 申请（专利权）人： | 中北大学 |
| 主分类号： | G06F21/78 | 分类号： | G06F21/78 |
| 代理公司： | 太原科卫专利事务所(普通合伙) 14100 | 代理人： | 朱源 |
| 地址： | 030051 山*** | 国省代码： | 山西;14 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种数据自毁的方法，具体为存储测试仪数据自毁方法。它主要由三个方面构成，第一，设定了数据定时自毁，到达定时时间后唤醒控制芯片，并与CPLD或者FPGA配合执行数据擦除操作；第二，设置了非正常读取自毁，当第一次接收到错误的读数指令时，如果没有在规定的定时时间内输入正确的指令，则执行唤醒控制芯片，并与CPLD或者FPGA配合执行数据擦除操作；第三，电池掉电自毁，在原有采集存储电路上增加了电池掉电检测电路，确认电池掉电后，利用电路板上的储能电容中存储的电量擦除存储芯片中存储的数据。本发明采用数据定时自毁、非正常读取自毁、装置断电后快速完成数据自毁的方法，来保证存储测试记录仪丢失时，或在电池因人为拆卸或意外断电时，测试仪仍可以完成数据自毁，不会造成数据的泄密。 | ||
| 搜索关键词： | 存储 测试仪 数据 自毁 方法 | ||
【主权项】：
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