[发明专利]存储测试仪数据自毁方法有效

专利信息
申请号: 201810044892.3 申请日: 2018-01-17
公开(公告)号: CN108537069B 公开(公告)日: 2021-07-06
发明(设计)人: 丁永红;尤文斌;王海霞;杨磊;姚悦;马铁华;裴东兴;范锦彪;李新娥;张瑜;路万里;田晓虹;张超颖;郭晶;申飞 申请(专利权)人: 中北大学
主分类号: G06F21/78 分类号: G06F21/78
代理公司: 太原科卫专利事务所(普通合伙) 14100 代理人: 朱源
地址: 030051 山*** 国省代码: 山西;14
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摘要:
搜索关键词: 存储 测试仪 数据 自毁 方法
【权利要求书】:

1.存储测试仪数据自毁方法,其特征在于包括数据采集方法、数据的定时自毁方法、非正常读取自毁方法和电池掉电自毁方法;

数据采集方法为:开启串口接收启动命令,当接收到启动命令后,进行循环写数据;当接收到触发命令后或触发电压有效时进入触发态,装置进行顺序写数据;数据采集完成后,控制芯片将存储芯片中触发时刻的存储地址与结束写存储地址发送给CPLD或者FPGA,并且控制芯片进入低功耗模式;

数据的定时自毁方法为:定时开始时刻为记录仪一旦进入触发态的时刻;定时功能由控制芯片中的定时器1实现;定时器1的时钟源选择为控制芯片内部时钟,到达定时时间后产生硬中断以唤醒控制芯片,控制芯片与CPLD或者FPGA配合完成数据的擦除;

非正常读取自毁方法为:数据读取的命令值和命令字节间隔时间由设计人员设定;数据采集完成后开启定时器2的定时功能,定时器2的时钟源为控制芯片内部时钟;产生读数请求时通过中断唤醒控制芯片,进行读数指令检测,如果是第一次输入的读数指令错误,则开启定时器2的定时功能;定时器2的定时时间时长由设计人员设定;如果到达定时时长还没有接收到正确的读数指令,定时器2产生中断唤醒控制芯片,与CPLD或者FPGA配合执行擦除操作;

电池掉电自毁方法为:在原有的采集存储电路的基础上,增加电池掉电检测电路:电池的正极通过二极管1后连接到装置供电口,与电池的负极共同为装置供电;电池的正极通过二极管1、二极管2后,分别输入到电压比较器的两个端口,电压比较器的输出连接到装置中的CPLD或者FPGA的一个管脚, 储能电容连接到装置供电口的两端,储能电容的正极板还和电压比较器的一个端口连接,当电池因人为拆卸或者电池因其他意外瞬间断电时,CPLD或者FPGA上的管脚检测到上升沿后再通过m个脉冲的高电平检测以确认电池掉电后,CPLD或者FPGA利用电路板上储能电容中存储的电量完成数据的擦除。

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