[发明专利]一种圆柱体探测器对点源的源峰探测效率获取方法有效
申请号: | 201810034602.7 | 申请日: | 2018-01-15 |
公开(公告)号: | CN108287357B | 公开(公告)日: | 2020-12-25 |
发明(设计)人: | 吴和喜;刘玉娟;杨悦;赵剑坤;张怀强;刘义保 | 申请(专利权)人: | 东华理工大学 |
主分类号: | G01T1/16 | 分类号: | G01T1/16 |
代理公司: | 南昌新天下专利商标代理有限公司 36115 | 代理人: | 郭显文 |
地址: | 344000*** | 国省代码: | 江西;36 |
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摘要: | 本发明公开了一种圆柱体探测器对点源的源峰探测效率获取方法,其特征在于,利用窄束γ射线在物质中的指数衰减规律及γ场叠加原理构建任意尺寸圆柱体探测器源峰探测效率的解析方程式。依据圆柱体探测器外所有屏蔽体用真空替代后11个指定位置点源的源峰探测效率MC软件模拟值与上述解析方程式的计算值间的加权偏差平方和最小的原则,获取指定能量γ射线在圆柱体探测器内的全能峰线衰减系数。该方法避免了以往数值计算方法中需要点源的本征效率参数阵列、MC软件模拟耗时长的缺点,仅需依据探测模型参数即可快速获得圆柱体探测器对任意位置点源的源峰探测效率值。 | ||
搜索关键词: | 一种 圆柱体 探测器 探测 效率 获取 方法 | ||
【主权项】:
1.一种圆柱体探测器对点源的源峰探测效率获取方法,其特征在于,先对圆柱体探测器标定其几何结构,包括圆柱体探测器底面半径和高度、各屏蔽体顶层及侧面厚度;利用窄束γ射线在物质中的指数衰减规律及γ场叠加原理构建任意尺寸圆柱体探测器源峰探测效率的解析方程式;将圆柱体探测器外所有屏蔽体用真空替代,采用MC软件模拟11个指定位置点源发射能量为E的γ射线在圆柱体探测器内源峰探测效率值;利用全能峰线衰减系数μE∈(0,μ)的特点,以其范围两端作为初始值,代入上述构建后的解析方程式计算上述MC模拟模型中各位置点源发射能量为E的γ射线在圆柱体探测器内源峰探测效率值
和
并计算其与模拟值间的加权偏差平方和ζa和ζb;当ζa≥ζb时,取a=(a+b)/2,b=b;反之,取a=a,b=(a+b)/2;重复步骤上述过程直至|a‑b|≤μ/105结束;此时如果ζa≥ζb,则μE=b;反之,取μE=a;将探测器几何结构参数、点源位置、μE和其它屏蔽材料的总线衰减系数代入上述构建后的解析方程式,采用梯形法即获得上述圆柱体探测器对任意位置点源发射的任意能量γ射线的源峰探测效率值:所述构建后的解析方程式如下:①当点源P位于圆柱体探测器顶面正上方时:
②当点源P位于圆柱体探测器顶面侧上方时:
对积分区间内的任意
值,如果
那么,
反之,
③当点源P位于圆柱体探测器圆柱面外:![]()
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