[其他]用于探测在材料流中的对象的装置有效
| 申请号： | 201790000346.9 | 申请日： | 2017-08-30 |
| 公开（公告）号： | CN208177898U | 公开（公告）日： | 2018-12-04 |
| 发明（设计）人： | R·胡贝尔;R·埃克塞尔伯格 | 申请（专利权）人： | 宾德股份公司 |
| 主分类号： | B07C5/342 | 分类号： | B07C5/342;G01N21/85;G01N21/88 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人： | 刘盈 |
| 地址： | 奥地利格*** | 国省代码： | 奥地利;AT |
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| 摘要： | 用于探测在材料流中的对象的装置，所述装置至少包括：光源，所述光源用于将在第一发送波长范围内和在第二发送波长范围内的光发射到材料流上；第一探测器，所述第一探测器用于探测对象的由在第一发送波长范围内的光引起的、在第一探测波长范围内的反射光、荧光或者透射光；第二探测器，所述第二探测器与第一探测器不同，该第二探测器用于探测对象的由在第二发送波长范围内的光引起的、在第二探测波长范围内的反射光、荧光或者透射光；其中，所述第一探测器与光源连接，以便控制所述第一发送波长范围的光强度，和/或所述第二探测器与光源连接，以便控制所述第二发送波长范围的光强度。由此能够通过光源减少发热。 | ||
| 搜索关键词： | 波长 第二探测器 第一探测器 光源 发送 材料流 探测波长 探测对象 反射光 透射光 荧光 探测 光发射 发热 | ||
【主权项】：
1.用于探测在材料流中的对象的装置，所述装置至少包括：光源，所述光源用于将在第一发送波长范围内和在第二发送波长范围内的光发射到材料流上，该第二发送波长范围与第一发送波长范围不同，第一探测器(1)，所述第一探测器用于探测对象的由在第一发送波长范围内的光引起的、在第一探测波长范围内的反射光、荧光或者透射光，第二探测器(2)，所述第二探测器与第一探测器(1)不同，该第二探测器用于探测对象的由在第二发送波长范围内的光引起的、在第二探测波长范围内的反射光、荧光或者透射光，其特征在于，所述第一探测器(1)与光源连接，以便控制所述第一发送波长范围的光强度，和/或所述第二探测器(2)与光源连接，以便控制所述第二发送波长范围的光强度。
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