[发明专利]用于校正激光光谱仪的光波和调谐范围的方法有效

专利信息
申请号: 201780079968.X 申请日: 2017-12-22
公开(公告)号: CN110100170B 公开(公告)日: 2022-06-21
发明(设计)人: 丹尼尔·德彭霍伊尔 申请(专利权)人: 西门子股份公司
主分类号: G01N21/3504 分类号: G01N21/3504;G01N21/27;G01N21/39;G01J3/02
代理公司: 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 代理人: 张英
地址: 德国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 在激光光谱仪中,波长可调谐的激光二极管(3)的光在透射气体(1、18)以后被探测并且被评估,其中,利用电流斜坡(9)周期性地驱控激光二极管(3),从而在探测光(4)时获得气体(1、18)的、时间解析的吸收光谱。为了校正激光光谱仪的波长和调谐范围,在第一步骤中,通过激光二极管的温度并且借助探测的吸收光谱中所选择的两个不同的吸收谱线中的一个吸收谱线的位置,对激光二极管(3)的中央波长进行再校正,并且在第二个步骤中,通过电流斜坡(11)的坡度校正激光二极管(3)的调谐范围,使得两个吸收谱线在探测的吸收光谱中的距离保持不变。
搜索关键词: 用于 校正 激光 光谱仪 光波 调谐 范围 方法
【主权项】:
1.一种用于校正激光光谱仪的波长和调谐范围的方法,其中,在透射过气体(1、18)以后,探测并评估波长可调谐的激光二极管(3)的光,其中,利用电流斜坡(9)周期性地驱控所述激光二极管(3),从而在探测所述光(4)时获得所述气体(1、18)的按时间解析的吸收光谱,其中,‑在当前获得的吸收光谱中,将所述气体(1、18)的吸收谱线(22)的实际位置与同一吸收谱线(22)在上一次校准所述激光光谱仪时探测并存储的应定位置进行比较,以及‑在校正步骤中,在所述吸收谱线(22)的所述实际位置与所述应定位置有偏差时,改变所述激光二极管(3)的温度,直到实际位置对应于所述应定位置,其特征在于,‑在当前获得的吸收光谱中,将另一吸收谱线(24)的实际位置与同一吸收谱线(24)在上一次校准所述激光光谱仪时探测并存储的应定位置进行比较,并且‑在另一校正步骤中,在所述另一吸收谱线(24)的所述实际位置与所述另一吸收谱线的所述应定位置有偏差时,改变所述电流斜坡(9)的斜度,直到实际位置对应于所述应定位置。
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