[发明专利]用于校正激光光谱仪的光波和调谐范围的方法

权利要求书

1.一种用于校正激光光谱仪的波长和调谐范围的方法，其中，在透射过气体(1、18)以后，探测并评估波长可调谐的激光二极管(3)的光(4)，其中，利用电流斜坡(9)周期性地驱控所述激光二极管(3)，从而在探测所述光(4)时获得所述气体(1、18)的按时间解析的吸收光谱，其中，

-在当前获得的吸收光谱中，将所述气体(1、18)的吸收谱线(22)的实际位置与同一吸收谱线(22)在上一次校准所述激光光谱仪时探测并存储的应定位置进行比较，以及

-在校正步骤中，在所述吸收谱线(22)的所述实际位置与所述应定位置有偏差时，改变所述激光二极管(3)的温度，直到实际位置对应于所述应定位置，

其特征在于，

-在当前获得的吸收光谱中，将另一吸收谱线(24)的实际位置与同一吸收谱线(24)在上一次校准所述激光光谱仪时探测并存储的应定位置进行比较，并且

-在另一校正步骤中，在所述另一吸收谱线(24)的所述实际位置与所述另一吸收谱线的所述应定位置有偏差时，改变所述电流斜坡(9)的斜度，直到实际位置对应于所述应定位置。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，重复地依次实施所述校正步骤和所述另一校正步骤。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述校正步骤和所述另一校正步骤的实施取决于，在应定位置与实际位置之间的相应偏差超过预设的阈值。

4.根据前述权利要求任一项所述的方法，其特征在于，

所述电流斜坡(9)由具有线性项和至少一个非线性项的电流时间函数形成，

在当前获得的吸收光谱中，将位于所述吸收谱线和所述另一吸收谱线(22、24)之间的至少一个额外吸收谱线(23)的实际位置与同一吸收谱线(23)在上一次校准激光光谱仪时探测并存储的应定位置进行比较，并且

在紧跟于所述另一校正步骤的附加校正步骤中，在至少一个所述额外吸收谱线(23)的实际位置与所述额外吸收谱线的应定位置有偏差时，改变所述至少一个非线性项，直到实际位置对应于应定位置。

5.根据权利要求1至3中任一项所述的方法，其特征在于，用于校正所述激光光谱仪的波长和调谐范围的吸收谱线(22、23、24)中的至少一个吸收谱线是测量气体混合物(1)的气体组分的所选择的吸收谱线，其中，通过评估所涉及的气体组分的吸收谱线来确定所述测量气体混合物(1)的同一关注气体组分或者另一关注气体组分的浓度。

6.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，用于校正所述激光光谱仪的波长和调谐范围的吸收谱线(22、23、24)中的至少一个吸收谱线是测量气体混合物(1)的气体组分的所选择的吸收谱线，其中，通过评估所涉及的气体组分的吸收谱线来确定所述测量气体混合物(1)的同一关注气体组分或者另一关注气体组分的浓度。

7.根据权利要求1至3中任一项所述的方法，其特征在于，用于校正所述激光光谱仪的波长和调谐范围的吸收谱线(22、23、24)中的至少一个吸收谱线是参考气体或者参考气体混合物(18)的所选择的吸收谱线。

8.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，用于校正所述激光光谱仪的波长和调谐范围的吸收谱线(22、23、24)中的至少一个吸收谱线是参考气体或者参考气体混合物(18)的所选择的吸收谱线。

9.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，同时透射所述参考气体或所述参考气体混合物(18)以及测量气体混合物(1)。

10.根据权利要求9所述的方法，其特征在于，所述参考气体或所述参考气体混合物(18)和所述测量气体混合物(1)在同一光路上前后依次地被透射，从所述参考气体或所述参考气体混合物(18)射出的光的部分借助于分光器(19)从通向所述测量气体混合物(1)的光路中退耦，并且被单独地探测。