[发明专利]用于去除蚀刻后残留物的清洁组合物在审

专利信息
申请号: 201780072992.0 申请日: 2017-11-21
公开(公告)号: CN110023477A 公开(公告)日: 2019-07-16
发明(设计)人: M·佩恩;E·库珀;金万涞;E·洪;S·金 申请(专利权)人: 恩特格里斯公司
主分类号: C11D7/32 分类号: C11D7/32;C11D3/00;C11D7/36;C11D11/00;G03F7/42
代理公司: 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 代理人: 李婷
地址: 美国马*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 发明涉及一种清洁组合物,其有助于在生产半导体中去除蚀刻后残留物。提供一种储备组合物,其包含:氢氧化四烷基铵碱或季铵化三烷基烷醇胺碱;腐蚀抑制剂;和至少两种或超过两种多元酸或其盐的组合,其中至少一种所述多元酸或其盐含有磷。
搜索关键词: 蚀刻后残留物 清洁组合物 多元酸 去除 氢氧化四烷基铵 烷基 腐蚀抑制剂 季铵化 烷醇胺 半导体 储备 生产
【主权项】:
1.一种储备组合物,其包含:氢氧化四烷基铵碱或季铵化三烷基烷醇胺碱;腐蚀抑制剂;和至少两种或超过两种多元酸或其盐的组合,其中至少一种所述多元酸或其盐含有磷。
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