[发明专利]用于运行用于检测在测量气体空间中的测量气体的颗粒的传感器元件的方法有效
申请号: | 201780072579.4 | 申请日: | 2017-10-23 |
公开(公告)号: | CN109997026B | 公开(公告)日: | 2022-10-04 |
发明(设计)人: | D·诺尔茨 | 申请(专利权)人: | 罗伯特·博世有限公司 |
主分类号: | G01N15/06 | 分类号: | G01N15/06;B08B7/00 |
代理公司: | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人: | 郭毅 |
地址: | 德国斯*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明提出一种用于运行用于检测在测量气体空间中的测量气体的颗粒的传感器元件的方法。所述传感器元件具有载体和至少一个测量电极,所述至少一个测量电极与所述载体连接并且能够暴露在所述测量气体中。所述方法包括如下步骤:a)以第一再生温度实施所述传感器元件的第一再生;b)在所述测量电极上实施第一诊断测量;并且c)根据所述第一诊断测量的结果实施以下步骤中的至少一个步骤:c1)输出故障通报;c2)实施测量阶段以检测所述测量气体的颗粒;或者c3)以第二再生温度实施所述传感器元件的第二再生。 | ||
搜索关键词: | 用于 运行 检测 测量 气体 空间 中的 颗粒 传感器 元件 方法 | ||
【主权项】:
1.一种用于运行用于检测在测量气体空间中的测量气体的颗粒的传感器元件的方法,其中,所述传感器元件包括载体和至少一个测量电极,所述至少一个测量电极与所述载体连接并且能够暴露在所述测量气体中,其中,所述方法包括如下步骤:a)以第一再生温度实施所述传感器元件的第一再生;b)在所述测量电极上实施第一诊断测量;并且c)根据所述第一诊断测量的结果实施以下步骤中的至少一个步骤:c1)输出故障通报;c2)实施测量阶段以检测所述测量气体的所述颗粒;或者c3)以第二再生温度实施所述传感器元件的第二再生。
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