[发明专利]有机EL显示装置和有机EL元件的劣化量的估算方法有效
申请号: | 201780071843.2 | 申请日: | 2017-02-24 |
公开(公告)号: | CN109983529B | 公开(公告)日: | 2022-04-05 |
发明(设计)人: | 九鬼辉;大和朝日 | 申请(专利权)人: | 夏普株式会社 |
主分类号: | G09G3/3233 | 分类号: | G09G3/3233;G09G3/3275 |
代理公司: | 北京尚诚知识产权代理有限公司 11322 | 代理人: | 龙淳;池兵 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明的目的在于,实现能够有效地抑制由有机EL元件的劣化引起的影像残留的产生的有机EL显示装置。在有机EL显示装置中设置有:经时劣化总量DB(120),其保持每个像素的经时劣化总量;经时劣化总量更新部(130),其按每单位时间考虑灰度等级值、明亮度设定的设定值和温度来求取有机EL元件的劣化量增量,并将该劣化量增量加到保持在经时劣化总量DB(120)中的经时劣化总量上;和图像劣化修正部(110),其基于保持在经时劣化总量DB(120)中的经时劣化总量对灰度等级值进行修正。 | ||
搜索关键词: | 有机 el 显示装置 元件 劣化量 估算 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于夏普株式会社,未经夏普株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201780071843.2/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:缝合器重新装载检测和识别
- 下一篇:用于提醒紧急服务的计算机系统