[发明专利]用于探测材料不均匀性的方法

摘要

本发明涉及一种用于探测信号(6)中的标记(7)的方法(100)，所述标记表明工件(1)的材料(2)中的不均匀性(2a)，工件(1)以该信号对接收器(4)针对由来自发射器(3)的声波(5a)、电磁辐射(5b)和/或电离辐射(5c)形成的探寻辐射(5)进行应答或已经应答，其中，从所述信号(6)的一个分量(6a)中分析评价(120)所述标记(7)，所述分量在工件(1)和/或发射器(3)和/或接收器(4)旋转和/或摆转(110)一个角度时随该角度改变。本发明还涉及一种用于探测工件(1)的材料(2)中的不均匀性(2a)的装置，包括用于发射探寻辐射(5)的发射器(3)和用于接收信号(6)的接收器(4)，工件(1)以该信号应答了探寻辐射(5)，其中，设置有构造为用于实施本发明方法的器件。还涉及一种对应的计算机程序产品。

主权项

1.用于探测信号(6)中的标记(7)的方法(100)，该标记表明工件(1)的材料(2)中的不均匀性(2a)，工件(1)以该信号对接收器(4)针对来自发射器(3)的探寻辐射(5)进行应答和/或已经应答，其特征在于，从所述信号(6)的一个分量(6a)中分析评价(120)所述标记(7)，所述分量在工件(1)和/或发射器(3)和/或接收器(4)旋转和/或摆转(110)一个角度时随该角度改变。